ICS 17.200.20 N11 DB35 福 建 省 地 方 标 准 DB35/T 1371—2013 RFID 自动温度记录仪通用规范 General specification for RFID automatic temperature recorder 2013 - 12 - 04 发布 福建省质量技术监督局 2014 - 03 - 01 实施 发 布 DB35/T 1371—2013 目 次 前言 ................................................................................. V 1 范围 .............................................................................. 1 2 规范性引用文件 .................................................................... 1 3 术语和定义 ........................................................................ 1 4 技术要求 .......................................................................... 2 5 试验方法 .......................................................................... 4 6 检验规则 .......................................................................... 6 7 标志、包装、运输、贮存及使用说明书 ................................................ 8 附录 A（规范性附录） 故障判据 ........................................................ 9 I DB35/T 1371—2013 前 言 本标准是按照GB/T 1.1-2009《标准化工作导则 第1部分：标准的结构和编写》给出的规则起草。 本标准由福建新大陆电脑股份有限公司提出。 本标准由福建省信息化局归口。 本标准起草单位：福建新大陆电脑股份有限公司、福建省电子产品监督检验所。 本标准主要起草人：蔡春水、黄斌、王铀、高恒、陈永长、陈力洪、林靖。 II DB35/T 1371—2013 RFID 自动温度记录仪通用规范 1 范围 本标准规定了RFID自动温度记录仪的技术要求、试验方法、检验规则及标志、包装、运输、 贮存、使用说明书。 本标准适用于RFID自动温度记录仪产品 (以下简称产品)。 2 规范性引用文件 下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于 本文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。 GB/T 191-2008 包装储运图示标志 GB/T 2423.1-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验A:低温 GB/T 2423.2-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验B:高温 GB/T 2423.3-2006 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Cab:恒定湿热试验 GB/T 2423.5-1995 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Ea和导则:冲击 GB/T 2423.10-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Fc:振动(正弦) GB 4208-2008 外壳防护等级（IP代码） GB/T 4857.2-2005 包装 运输包装件基本试验 第2部分:温湿度调节处理 GB/T 4857.5-1992 包装 运输包装件 跌落试验方法 GB/T 5080.7-1986 设备可靠性试验恒定失效率假设下的失效率与平均无故障时间的验证 试验方案 GB/T 5271.14-2008 信息技术 词汇 第14部分:可靠性、可维护性与可用性 GB/T 9969-2008 工业产品使用说明书 总则 GB/T 18455-2010 包装回收标志 GB/T 28925-2012 信息技术 射频识别 2.45GHz空中接口协议 3 术语和定义 下列术语和定义适用于本标准。 3.1 RFID（射频识别） Radio Frequency Identification 利用无线电射频通讯技术实现短程数据双向通信，对目标进行识别。 3.2 RFID 自动温度记录仪 RFID automatic temperature recorder 可实时测量、采集、记录环境温度，并把温度数据存储在产品中，通过RFID的通讯方式把数 据传输到RFID数据采集器的温度记录仪器。 1 DB35/T 1371—2013 3.3 读距离 Read Range 产品射频信号能被RFID数据采集器可靠地读取到的距离。 4 技术要求 4.1 硬件要求 4.1.1 主板 4.1.1.1 处理器 采用一个或多个CPU。 4.1.1.2 存储器 根据使用要求选配ROM、RAM、FLASH ROM等存储器，存储容量按使用要求配置。 4.1.1.3 通讯协议 应符合GB/T 28925-2012的规定。 4.1.2 电池 采用电池供电，电池的容量在产品标准中规定。 4.2 读距离 读距离不小于5m。 4.3 测温范围及最大误差 测温范围-20℃≤T≤0℃时，最大允许误差是±0.5℃； 测温范围 0℃＜T≤40℃时，最大允许误差是±1.0℃。 4.4 测温间隔 测温间隔可通过软件设定,其最小测温间隔为1s。 4.5 存储容量 可存储的测温记录不小于10000条。 4.6 可靠性 采用平均无故障工作时间（MTBF）衡量产品的可靠性水平。 产品的MTBF的不可接收值m1值不低于2000h。 4.7 外观和结构 4.7.1 表面不应有明显的凹痕、划伤、裂缝、变形和污染等，表面涂镀层应均匀，不应起泡、龟 裂、脱落和磨损，金属零部件不应有锈蚀及其它机械损伤。 4.7.2 标志、铭牌和说明功能的文字及符号，应完整正确、简明清晰。 4.8 2 外壳防护 DB35/T 1371—2013 外壳防护等级应达到GB 4208-2008中IP54的要求。 4.9 环境适应性 4.9.1 气候环境适应性 气候环境适应性见表1。 表1 温 工 度 贮 存 运 工 相 对 湿 度 4.9.2 气候环境适应性 贮 存 运 作 -20℃ ～ 40℃ 输 -30℃～ 60℃ 作 5% ～ 90% ，无冷凝 输 ≤ 93%（40℃） 机械环境适应性 机械环境适应性见表2、表3、表4。 表2 试验项目 振动适应性 试 验 内 容 初始和最后振动 响应检查 扫频耐久试验 标 频率范围，Hz 10～150 扫频速度， oct/min ≤1 驱动振幅，mm 0.15 驱动振幅，mm 定频耐久试验 指 0.75（10 Hz～25 Hz） 0.15（25 Hz～55 Hz） 持续时间，min 30±1 频率范围，Hz 10～55～10 驱动振幅，mm 0.15 扫频速度，oct/min ≤1 循环次数 5 注：表中驱动振幅为峰值 表3 冲击适应性 峰值加速度，m/s2 脉冲持续时间，ms 冲击波形 1500 11 半正弦波形 表4 运输包装件跌落适应性 包装件质量，kg 跌落高度，mm ≤ 15 1000 15～30 800 30～40 600 > 40 450 3 DB35/T 1371—2013 5 试验方法 5.1 试验环境条件 本部分中除气候环境试验外，其它试验均可在下述正常大气条件下进行。 温度：15 ℃～35 ℃； 相对湿度：45 %～75 %； 大气压力：86 kPa ～106 kPa。 5.2 硬件 使用符合GB/T 28925-2012要求的RFID数据采集器读取被测产品的测温记录，应读取到一条以 上的记录。 5.3 读距离 试验环境：屏蔽室或空旷室外作为测试场地。 试验设备：受试样品、RFID数据采集器。 试验方法：将受试样品和RFID数据采集器放置在距离5 m的相同水平高度且两者中间无障碍 物,RFID数据采集器应能正确读取受试样品的ID号。 5.4 测温范围及最大误差 测温范围试验按表5的要求进行。 表5 5.5 测温采样点及最大误差 采样点，℃ 最大允许误差，℃ -20 ±0.5 -10 ±0.5 0 ±0.5 20 ±1.0 40 ±1.0 测温间隔 将受试样品设置为三种不同的测温间隔（1s、5s、10s），用RFID数据采集器查看受试样品存 储测温记录上的时间信息，应与设定的间隔时间相符。 5.6 存储容量 将受试样品的测温间隔设置为5s，14h后用RFID数据采集器查看受试样品存储测温记录，应符 合4.5条的要求。 5.7 可靠性试验 可靠性试验采用GB/T 5080.7-1986中表1序贯试验方案的4:7方案进行，温度应力的正常温度 为25℃，温度上限值为40℃ 。正常和上限温度的持续时间之比为1:1左右，故障的判据和计入方 法按附录A的规定，并只统计关联故障数。 4 DB35/T 1371—2013 5.8 外观和结构检查 用目测法进行外观和结构检查，应符合4.7的要求。 5.9 外壳防护试验 按GB 4208-2008进行，应符合4.8的要求。 5.10 环境适应性试验 5.10.1 一般要求 以下各项试验中，规定的初始检测和最后检测，统一按4.7的要求进行外观和结构检查，产品 应能正常工作。 5.10.2 温度下限试验 5.10.2.1 工作温度下限试验 按GB/T 2423.1-2008 “试验Ad”进行。受试样品须进行初始检测。严酷程度取表1规定的工 作温度下限，加电运行检查程序2 h，受试样品应能正常工作。恢复时间为2 h。 5.10.2.2 贮存运输温度下限试验 按GB/T 2423.1-2008 “试验Ab”进行。严酷程度取表1规定的贮存运输温度下限。受试样品 在不工作条件下存放16 h。恢复时间为2 h，