ICS 19.100 J 04 中华人民共和国国家标准 GB/T35394—2017 无损检测 X射线数字成像检测 系统特性 Non-destructive testing- X-ray digital radiographySystem properties 2018-04-01实施 2017-12-29发布 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 发布 中国国家标准化管理委员会 GB/T35394—2017 前言 本标准按照GB/T1.1—2009给出的规则起草 本标准由全国无损检测标准化技术委员会（SAC/TC56）提出并归口。 本标准起草单位：中国工程物理研究院机械制造工艺研究所、兰州瑞奇戈德测控技术有限公司、中 国特种设备检测研究院、中信戴卡股份有限公司、杭州华安无损检测技术有限公司、中国兵器科学研究 院宁波分院、湖北三江航天江北机械工程有限公司、苏州工业园区道青科技有限公司、上海材料研究所、 哈尔滨锅炉厂有限责任公司、烟台华科检测设备有限公司、重庆大学、清华大学、中航工业北京航空制造 工程研究所、成都华宇检测科技有限公司、成都飞机工业（集团）有限责任公司、南德认证检测（中国）有 限公司上海分公司、广东盈泉高新材料有限公司。 本标准主要起草人：孙朝明、孙忠诚、梁丽红、刘军、张利明、倪培君、王晓勇、陶维道、丁杰、孟令庆、 王建华、段晓礁、肖永顺、宋震方、唐良明、杨扬、刘二军、曾祥照。 GB/T 35394—2017 无损检测 X射线数字成像检测 系统特性 1范围 本标准规定了X射线数字成像系统的设备要求和测定条件以及线性范围、基本空间分辨率、最小 许可灰度幅值、对比度灵敏度、厚度宽容度和曝光曲线的测定方法。 本标准适用于金属材料、非金属材料、复合材料等制品X射线数字成像检测设备的性能测定。 规范性引用文件 2 下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文 件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件 GB/T12604.11无损检测 术语X射线数字成像检测 GB/T 23901.5 无损检测 射线照相底片像质第5部分：双线型像质计 图像不清晰度的测定 GB/T 35388 无损检测X射线数字成像检测 检测方法 GB/T35389 无损检测X射线数字成像检测 导则 3 术语和定义 GB/T12604.11界定的术语和定义适用于本文件。 4符号 表1所列符号适用于本文件。 表1符号与说明 符号 说明 CNR 对比度噪声比 CNR. 利用具有特定厚度差的凹槽测量得到的对比度噪声比 CS. 对比度灵敏度 D 灰度幅值，图像灰度值相对于满幅值的比例 Dip 线对的调制度 E 探测器单顿曝光量 fps 探测器每秒钟输出的图像顿数 GVmx 探测器可输出的最大灰度值 GVmean 区域内的平均灰度值 GVmin 最小许可灰度幅值 SAG 1 GB/T35394—2017 表1（续） 符号 说明 mA 射线管电流 SNR 信噪比 SNRN 归一化信噪比 SRb 基本空间分辨率 5 设备要求 5.1 射线源 5.1.1 具有足够高的能量和功率，以保证射线穿透被测物体后探测器能够获得足够的灰度值 5.1.2 工作参数具有一定的稳定性，避免检测图像出现闪烁或明显的干扰条纹 5.1.3 具有射线焦点尺寸和形状的测定报告并注明其所按照的相关标准。 5.2 探测器 5.2.1 探测器模/数（A/D)转换器的位数应不低于12bit。 5.2.2 坏像素的定义和表现形式见附录A。有关坏像素的规定： a) 面阵列探测器中不得存在集群核像素； b) c) 采用拼接工艺制造的探测器，拼接间距不得超过一个像素的距离； (p 线阵列探测器中，相连的坏像素不准许超过2个； e) 所有坏像素之和不得超过探测器总像素的1%。 5.3 显示器 5.3.1 图像显示器应满足以下要求： a) 像素数目宜与探测器像素数目相匹配，像素尺寸小于0.25mm； b) 最大亮度不低于250cd/m； c) 显示灰度级不小于8bit； 显示对比度不低于500：1。 5.3.2使用测试图像检测显示系统的特性并达到相关要求，参见附录B。 6 测试条件 6.1 双线型像质计 采用符合GB/T23901.5规定的双线型像质计。 6.2 2阶梯试块 使用附录C规定的阶梯试块 2