ICS 31.08 0 CCS L 04 团体标准 T/CIE 1 16-2021 电子元器件故障树分析方法 与程序 Fault tree analysis method and procedure of electronic component s 2021-11-22发布 中国电子学会 发布 2022-02-01实施 全国团体标准信息平台 T/CIE 116- 2021 I 目 次 前言 ................................................................................ II 引言 ............................................................................... III 1 范围 ............................................................................... 1 2 规范性引用文件 ..................................................................... 1 3 术语和定义 ......................................................................... 1 4 一般要求 ........................................................................... 3 4.1 总则 ........................................................................... 3 4.2 故障树构建基本要求 ............................................................. 4 4.3 一般分析程序 ................................................................... 4 4.4 分析人员 ....................................................................... 4 4.5 信息收集 ....................................................................... 5 5 详细要求 ........................................................................... 5 5.1 分析目的 ....................................................................... 5 5.2 故障树顶事件 ................................................................... 5 5.3 故障树分析范围 ................................................................. 6 5.4 FTA 分辨率 ..................................................................... 6 5.5 故障树分析模式规则 ............................................................. 6 5.6 故障树建造 ..................................................................... 8 5.7 故障树分析与应用 .............................................................. 12 5.8 故障树分析结果展示 ............................................................ 14 附录 A （资料性） 元器件故障树符号、事件标号和子树代号说明 .......................... 16 A.1 电子元器件故障树符号 .......................................................... 16 A.2 电子元器件故障树标号、子树代 号 ................................................ 17 附录 B （资料性） 电子元器件故障树分析案例 .......................................... 18 B.1 针对质量问题归零的混合集成电路故障树分析 ...................................... 18 参考文 献 ...................................................................... 22 全国团体标准信息平台 T/CIE 116- 2021 II 前 言 本文件按照GB/T 1.1 —2020《标准化工作导则 第1部分：标准化文件的结构和起草规则》的规 定起草。 请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任。 本文件由中国电子学会可靠性分会 提出。 本文件由中国电子学会可靠性分会归口。 本文件起草单位：工业和信息化部电子第五研究所 。 本文件主要起草人： 何小琦，陈媛，恩云飞，来萍，宋芳芳，王蕴辉， 支越，路国光 ，任艳。 全国团体标准信息平台 T/CIE 116- 2021 III 引 言 电子元器件故障树分析（FTA ）方法与程序， 是在电子元器件质量问题归零、电子产品可靠性设 计等工程实践中总结形成的基于失效物理的故障树构建方法及 故障树分析程序 ，目的是在质量问题归 零分析中有效识别故障产品 相关元器件的失效模式、失效机理和失效路径， 在可靠性设计分析中 发现 元器件的潜在失效 机理并制定相应的失效 控制对策。 与FTA相关标准对比 ，现有标准 GB/T 7829- 87《故障树分析程序》、GJB/Z 768A -98《故障树分析 指南》规定 了故障事件演绎 所遵循的因果逻辑关系的 一般原则。本 文件则针对电子元器件的失效特点 ， 提出和规定了基于失效物理因果逻辑关系演绎故障事件的基本要求，并将F TA分辨率定位至 元器件内 部微区结构和材料的失效物理事件层次。 本文件给出的基于失效物理的故障树构建方法及规范要求，解决了电子元器件故障树建树过程中 故障事件演绎不充分、上下事件 因果逻辑关系易混乱的问题， 可以建立以故障树为载体且失效信息因 果逻辑关系清晰的电子 元器件故障信息库。本 文件方法适用于产品 尺寸小、内部结构性能 难以直接测 量的电子元器件产品。 全国团体标准信息平台