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GB/T 38976-2020 硅材料中氧含量的测试 惰性气体熔融红外法.pdf
GB/T 39145-2020 硅片表面金属元素含量的测定 电感耦合等离子体质谱法.pdf
GB/T 41153-2021 碳化硅单晶中硼、铝、氮杂质含量的测定 二次离子质谱法.pdf
GB-T 24581-2022 硅单晶中III、V族杂质含量的测定 低温傅立叶变换红外光谱法.pdf
GB-T 14849.3-2020 工业硅化学分析方法 第3部分：钙含量的测定.pdf
GB-T 34504-2017 蓝宝石抛光衬底片表面残留金属元素测量方法.pdf
GB-T 35309-2017 用区熔法和光谱分析法评价颗粒状多晶硅的规程.pdf
GB-T 4060-2018 硅多晶真空区熔基硼检验方法.pdf
GB-T 4059-2018 硅多晶气氛区熔基磷检验方法.pdf
GB-T 32277-2015 硅的仪器中子活化分析测试方法.pdf
GB-T 37049-2018 电子级多晶硅中基体金属杂质含量的测定 电感耦合等离子体质谱法.pdf
GB-T 37211.2-2018 金属锗化学分析方法 第2部分：铝、铁、铜、镍、铅、钙、镁、钴、铟、锌含量的测定 电感耦合等离子体质谱法.pdf
GB-T 37385-2019 硅中氯离子含量的测定 离子色谱法.pdf
GB-T 26074-2010 锗单晶电阻率直流四探针测量方法.pdf
GB-T 17170-2015 半绝缘砷化镓单晶深施主EL2浓度红外吸收测试方法.pdf
GB-T 32281-2015 太阳能级硅片和硅料中氧、碳、硼和磷量的测定 二次离子质谱法.pdf
GB-T 8757-2006 砷化镓中载流子浓度等离子共振测量方法.pdf
GB-T 8758-2006 砷化镓外延层厚度红外干涉测量方法.pdf
GB-T 11068-2006 砷化镓外延层载流子浓度电容-电压测量方法.pdf
GB-T 11073-2007 硅片径向电阻率变化的测量方法.pdf
GB-T 19922-2005 硅片局部平整度非接触式标准测试方法.pdf
GB-T 39144-2020 氮化镓材料中镁含量的测定 二次离子质谱法.pdf
GB-T 37211.3-2022 金属锗化学分析方法 第3部分痕量杂质元素的测定 辉光放电质谱法.pdf
GB-T 42263-2022 硅单晶中氮含量的测定 二次离子质谱法.pdf
GB-T 42274-2022 氮化铝材料中痕量元素 镁、镓 含量及分布的测定 二次离子质谱法.pdf
GB-T 42276-2022 氮化硅粉体中氟离子和氯离子含量的测定 离子色谱法.pdf
GB-T 1557-2018 硅晶体中间隙氧含量的红外吸收测量方法.pdf
GB-T 35306-2017 硅单晶中碳、氧含量的测定 低温傅立叶变换红外光谱法.pdf
GB-T 37211.1-2018 金属锗化学分析方法 第1部分：砷含量的测定 砷斑法.pdf
GB-T 14849.1-2020 工业硅化学分析方法 第1部分：铁含量的测定.pdf
GB-T 19199-2015 半绝缘砷化镓单晶中碳浓度的红外吸收测试方法.pdf
GB-T 24578-2015 硅片表面金属沾污的全反射X光荧光光谱测试方法.pdf
GB-T 26070-2010 化合物半导体抛光晶片亚表面损伤的反射差分谱测试方法.pdf
SN-T 2413-2010 进出口金属硅中总碳和硫含量测定 高频燃烧红外吸收光谱法.pdf
GB-T 35306-2023 硅单晶中碳、氧含量的测定 低温傅立叶变换红外光谱法.pdf
GB-T 24582-2023 多晶硅表面金属杂质含量测定 酸浸取-电感耦合等离子体质谱法.pdf
GB-T 4326-2006 非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法.pdf
YS-T 1600-2023 碳化硅单晶中痕量杂质元素含量的测定 辉光放电质谱法.pdf
YS-T 1601-2023 六氯乙硅烷中杂质含量的测定 电感耦合等离子体质谱法.pdf
YS-T 1654-2023 氮化镓化学分析方法 痕量杂质元素含量的测定 辉光放电质谱法.pdf
YS-T 38.3-2023 高纯镓化学分析方法 第3部分：痕量杂质元素含量的测定 辉光放电质谱法.pdf
GB-T 1558-2023 硅中代位碳含量的红外吸收测试方法.pdf
GB-T 32277-2015 硅的仪器中子活化分析测试方法.pdf
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