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T-CASAS 006—2020 碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管通用技术规范.pdf
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| 2025-06-21
T-CFA 0202050104–2—2016 铸造熔炼用碳化硅 技术条件.pdf
本站防伪标识:e75b3e3470da6d3a00392fa2cccc89f4
5.0 分
0.3 元 | 7 页 | 242.8 KB
| 2025-06-21
T-CASAS 016—2022 碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管 SiC MOSFET 结壳热阻瞬态双界面测试方法.pdf
本站防伪标识:2cc542ed47be0b096e4f40e09ede738b
5.0 分
0.6 元 | 12 页 | 794.8 KB
| 2025-06-21
T-CASAS 015—2022 碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管 SiC MOSFET 功率循环试验方法.pdf
本站防伪标识:61f18be92bd157426523d83a5a65ed80
5.0 分
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| 2025-06-21
T-CSAE 232—2021 电动汽车碳化硅电机控制器效率测试方法.pdf
本站防伪标识:a7cb8379157aafb6262fb049837b4b94
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| 2025-06-21
T-CASAS 014—2021 碳化硅衬底基平面弯曲的测定 高分辨X射线衍射法.pdf
本站防伪标识:84d24f83993537d6210c468b8b605c5f
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| 2025-06-21
T-CASAS 013—2021 碳化硅晶片位错密度检测方法 KOH腐蚀结合图像识别法.pdf
本站防伪标识:a4e72487d9fdcc5860cbeab77a4c41e4
5.0 分
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| 2025-06-21
T-CASAS 007—2020 电动汽车用碳化硅 SiC 场效应晶体管 MOSFET 模块评测规范.pdf
本站防伪标识:9891648d1ca61a86ee5ab946c09bea63
5.0 分
1.6 元 | 32 页 | 4.2 MB
| 2025-06-21
T-IAWBS 013—2019 半绝缘碳化硅单晶片电阻率非接触测量方法.pdf
本站防伪标识:867e3e92119660d0db3197937abfc858
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0.5 元 | 9 页 | 541.7 KB
| 2025-06-21
T-IAWBS 012—2019 碳化硅单晶抛光片表面质量和微管密度测试方法 ——共焦点微分干涉光学法.pdf
本站防伪标识:9d6fde149d161cd8694f9aaf0c6d9a76
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| 2025-06-21
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