ICS 31.200 L 56 团 体 准 标 T/CIE 079—2020 工业级高可靠集成电路评价 第14部分：图像传感器 Evaluation of industrial high-reliability integrated circuits- Part 14 :Imaging sensor 2020-06-08 发布 2020-08-15实施 中国电子学会 发布 T/CIE 079—2020 目 次 前言 范围 1 2规范性引用文件 3术语、定义和缩略语 3.1术语和定义 3.2缩略语 4检测要求 工作和存储环境要求 4.1 4.2外观要求 4.3功能、性能检测要求 盗隐藏图层 4.5可靠性要求 5检测方法·.。· 积分下载 5.1工作和存储环境检测方法 5.2外观检测方法 5.3功能、性能检测方法 5.4电磁兼容性能检测方法 5.5可靠性检测方法 6检验规则 本图隐藏 T/CIE 079—2020 前言 本部分按照GB/T1.1一2009给出的规则起草 本部分由中国电子学会提出并归口。 本部分起草单位：北京芯可鉴科技有限公司、北京智芯微电子科技有限公司、杭州万高科技股份有 限公司、国网思极紫光（青岛)微电子科技有限公司、北京银联金卡科技有限公司、辰芯科技有限公司、北 京全路通信信号研究设计院有限公司、中国铁道科学研究院集团有限公司通信信号研究所、南方电网公 司数字电网研究院有限公司、中国科学院半导体研究所、武汉理工大学。 本部分主要起草人：赵东艳、王于波、杜剑、陈燕宁、李延、邵瑾、杨季、郁文、付振、朱松超、刘芳、 黄海潮、朱珊珊、王帅鹏、洪艳艳、王、崔国宇、万勇、限合朋、王宏光、任军、赵阳、于健洁、尹旭、田兵、 杨晋玲、谭刚健。 防盗隐藏图层 请用积分下载 正常下载 本图隐藏 T/CIE 079—2020 工业级高可靠集成电路评价 第14部分：图像传感器 1范围 本部分规定了工业级高可靠图像传感器的检测要求、检测方法和检验规则等 本部分适用于工业级高可靠图像传感器（CMOS、CCD)的鉴定验收和评价检测活动。 2规范性引用文件 下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件。仅注日期的版本适用于本文 件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件 GB/T 2423.1电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验 A：低温 GB/T 2423.4电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验 Db:交变湿热（12 h十12 h循 环) GB/T 2423.7环境试验第2部分;试验方法试验 Ec:粗率操作造成的冲击（主要用于设备型 样品) 电工电子产品环境试验 GB/T 2423.17 第 2部分:试验方法试验 Ka:盐雾 GB/T 2423.22环境试验 第 2部分:试验方法试验 N:温度变化 GB/T 2423.24 环境试验第2部分：试验方法 试验Sa:模拟地面上的太阳辐射及其试验导则 GB/T 4208外壳防护等级（IP 代码）已 电磁兼容试验和测量技术 静电放电抗扰度试验 GB/T 17626.2 电磁兼容 试验和测量技术 射频电磁场辐射抗扰度试验 GB/T 17626.3 电磁兼容 试验和测量技术 GB/T 17626.8 工频磁场抗扰度试验 脉冲磁场抗扰度试验 GB/T 17626.9电磁兼容试验和测量技术 EMVA1288图像传感器与相机性能检测标准 3术语、定义和缩略语 3.1术语和定义 下列术语和定义适用于本文件。 3.1.1 量子效率 quantum efficiency 入射到像素面上的光子会转换为一定数量的电子，转换的电子和入射光子的比例来表征光电转化 效率。量子效率采用式(1)计算。 n(α) =μe .(1) μp 1