ICS 31.200 L 56 体 标 准 团 T/CIE 072—2020 工业级高可靠集成电路评价 第7部分：AD 和DA转换器 Evaluation of industrial high-reliability integrated circuits- Part 7 : Analog-to-Digital converters and Digital-to-Analog converters 2020-06-08 发布 2020-08-15实施 中国电子学会 发布 T/CIE 072—2020 目 次 前言 II 范围 1 规范性引用文件 2 3术语和定义、缩略语、符号 3.1 术语和定义 3.2 缩略语 符号 3.3 4检测要求 外观要求 4.1 4.2 工艺信息 4.3 DAC 电特性和功能检测要求 4.4 ADC电特性和功能检测要求 可靠性检测要求 4.5 13 4.6 电磁兼容检测要求 20 4.7 电特性和功能检测的设备和环境要求 22 检测期间注意事项 4.8 23 检测方法 23 外观检查 5.1 23 5.2 工艺信息确认 23 5.3DAC 特性检测 24 5.4ADC特性检测 30 可靠性检测方法 36 5.5 5.6电磁兼容性能检测方法 38 6检验规则. T/CIE 072—2020 前言 本部分按照GB/T1.1一2009给出的规则起草。 本部分由中国电子学会提出并归口。 本部分主要起草单位：北京芯可鉴科技有限公司、北京智芯微电子科技有限公司、杭州万高科技股 份有限公司、国网思极紫光（青岛）微电子科技有限公司、北京银联金卡科技有限公司、辰芯科技有限公 司、北京全路通信信号研究设计院有限公司、中国铁道科学研究院集团有限公司通信信号研究所、中车 株洲电力机车研究所有限公司、钜泉光电科技（上海）股份有限公司、上海华虹宏力半导体制造有限公 司、芯创智（北京)微电子有限公司、中芯国际集成电路制造有限公司、通富微电子股份有限公司、北京和 利时系统工程有限公司。 本部分主要起草人：赵东艳、王于波、甄岩、邵瑾、何凡、张鹏、吴汉明、张海峰、高小飞、鹿祥宾、 孙云龙、赵扬、朱松超、岳志刚、钟明琛、门长有、钱国良、马哲、王宏光、任军、于健洁、胡启雯、马侠、 钱文生、朱敏、程建伟、宫芳、万雪飞、吴峰霞、 II T/CIE 072—2020 工业级高可靠集成电路评价 第7部分：AD和DA转换器 1范围 本部分规定了工业级高可靠AD转换器（以下简称ADC)和DA转换器（以下简称DAC)的检测要 求、检测方法和检验规则 本部分适用于工业级高可靠AD转换器和DA转换器的鉴定验收和评价检测活动。 2规范性引用文件 下列文件对于本文件的引用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文 件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本（包括所有的修改单)适用于本文件。 湿和焊接热综合影响 GB/T17574一1998半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路 GB/T17626.2一2018电磁兼容试验和测量技术静电放电抗扰度试验 GB/T17626.4一2018电磁兼容试验和测量技术电快速瞬变脉冲群抗扰度试验 GJB548B一2005微电子器件试验方法和程序 IEC62132-2集成电路电磁抗扰度测试第2部分：辐射抗扰度测试横电磁波传输室和宽带 横电磁波传输室方法(Integrated circuits一Measurement of electromagnetic immunity一Part 2：Meas- urement of radiated immunityTEM cell and wideband TEM cell method) IEC62132-4集成电路150kHz～1GHz电磁抗扰度测试第4部分：直接射频功率注人法 (Integrated circuits—Measurement of electromagnetic immunity 150 kHz to 1 GHz-Part 4: Direct RF power injection method) IEC 62215-3集成电路脉冲抗扰度测试第3部分：非同步瞬变注人方法（Integrated circuits—Measurement of impulse immunity—Part 3: Non-synchronous transient injection method) 3术语和定义、缩略语、符号 下列术语和定义适用于本文件。 3.1术语和定义 3.1.1 信号分量功率 P，signal component power P DAC：在ATE数字化仪采样的信号进行频谱分析时，与信号频率相对应的谱线的功率。 ADC:ATE采集到的数据经过FFT计算的功率谱中，与信号频率相对应的谱线的功率。 1