ICS 31.200 L 56 体 标 准 团 T/CIE 068—2020 工业级高可靠集成电路评价 第 2部分:DC/DC 变换器 Evaluation of industrial high-reliability integrated circuits- Part 2 : DC/DC converter 2020-06-08 发布 2020-08-15实施 中国电子学会 发布 T/CIE 068—2020 目 次 前言 II 范围 1 规范性引用文件 2 3术语和定义、缩略语、符号 3.1 术语和定义 3.2 缩略语 3.3 符号 检测要求 4.1 工作温度及检测环境要求 外观要求 4.2 工艺信息 4.3 电气参数检测要求 4.4 4.5 功能、性能检测要求 可靠性检测要求 4.6 4.7 电磁兼容检测要求 5检测方法· 16 工作和存储环境检测 5.1 16 5.2 外观检查 5.3 工艺信息确认 16 5.4电气参数检测方法· 5.5 功能、性能检测方法 18 5.6可靠性检测方法· 20 5.7 电磁兼容性能检测方法 22 6检验规则· 23 T/CIE 068—2020 前言 本部分按照GB/T1.1一2009给出的规则起草。 本部分由中国电子学会提出并归口。 本部分主要起草单位：北京芯可鉴科技有限公司、北京智芯微电子科技有限公司、杭州万高科技股 份有限公司、国网思极紫光（青岛)微电子科技有限公司、北京银联金卡科技有限公司、辰芯科技有限公 司、北京全路通信信号研究设计院有限公司、中国铁道科学研究院集团有限公司通信信号研究所、中车 株洲电力机车研究所有限公司、北京博纳电气股份有限公司、钜泉光电科技（上海）股份有限公司、杰华 特微电子有限公司、芯创智（北京)微电子有限公司、通富微电子股份有限公司。 本部分主要起草人：赵东艳、王于波、赵法强、邵瑾、原义栋、陈燕宁、张海峰、张相飞、孙云龙、朱松超、 魏晓慧、张健、李发宁、郑兰兰、朱敏、宫芳。 T/CIE 068—2020 工业级高可靠集成电路评价 第 2部分：DC/DC变换器 1范围 本部分规定了工业级高可靠DC/DC变换器的检测要求、检测方法和检验规则。 本部分适用于工业级高可靠DC/DC变换器的鉴定验收和评价检测活动。 2规范性引用文件 下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文 件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。 湿和焊接热综合影响 GB/T17626.2一2018电磁兼容试验和测量技术静电放电抗扰度试验 GB/T17626.4一2018电磁兼容试验和测量技术电快速瞬变脉冲群抗扰度试验 GB/T17940一2000半导体器件集成电路第3部分：模拟集成电路 IEC62132-2集成电路电磁抗扰度测试第2部分：辐射抗扰度测试横电磁波传输室和宽带 横电磁波传输室方法(Integrated circuits一Measurement of electromagnetic immunity一Part 2:Meas- urement of radiated immunity-TEM cell and wideband TEM cell method) IEC62132-4集成电路150kHz～1GHz电磁抗扰度测试第4部分：直接射频功率注人法 (Integrated circuits—Measurement of electromagnetic immunity 150 kHz to 1 GHz—Part 4 :Direct RF power injection method) IEC 62215-3集成电路脉冲抗扰度测试第3部分：非同步瞬变注人方法（Integrated circuits—Measurement of impulse immunity—Part 3:Non-synchronous transient injection method) 3术语和定义、缩略语、符号 下列术语和定义适用于本文件。 3.1术语和定义 3.1.1 闪锁效应latch up CMOS工艺、BiCMOS工艺及Bipolar工艺特有的故障现象，由于这类工艺存在寄生电路，会导致 电源和地之间出现大电流通路而烧毁芯片。 3.2缩略语 下列缩略语适用于本文件。 AM:调幅(Amplitude Modulation) DPI：直接射频功率注人（DirectRFPowerInjection） EFT:电快速瞬变脉冲群(Electrical Fast Transient) ELFR：早天期寿命失效率（EarlyLifeFailureRate） 1