(19)中华 人民共和国 国家知识产权局 (12)发明 专利申请 (10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请 号 202111666433.7 (22)申请日 2021.12.3 0 (71)申请人 中国电子产品可靠性与环境试验研 究所 （ （工业和信息化部电子第五研 究所） （中国赛宝实验室） ） 地址 511300 广东省广州市增城区朱 村街 朱村大道西78号 (72)发明人 张战刚　黄云　雷志锋　彭超　 何玉娟　肖庆中　路国光　来萍　 (74)专利代理 机构 华进联合专利商标代理有限 公司 44224 代理人 聂榕 (51)Int.Cl. G06F 30/20(2020.01) G06F 119/02(2020.01) (54)发明名称 电子器件 软错误率评估 方法、 装置和计算机 设备 (57)摘要 本申请涉及一种电子器件软错误率评估方 法、 装置、 计算机设备、 存储介质和计算机程序产 品。 所述方法包括： 获取电子器件的封装材料释 放的粒子的通量 ‑能量谱； 对所述电子器件进行 反向分析， 确定电子器件的有源区至所述封装材 料之间的介质属性信息； 根据通量 ‑能量谱以及 介质属性信息， 确定电子器件在 有源区的粒子通 量‑有效线性能量转移值谱； 获取对电子器件进 行辐照试验获得的电子器件的单粒子效应截面 值‑有效线性能量转移值谱； 对粒子通量 ‑有效线 性能量转移值谱和单粒子效应截面值 ‑有效线性 能量转移值谱进行运算， 确定电子器件的软错误 率。 采用本方法能够提高电子器件 软错误率的评 估精度。 权利要求书2页 说明书10页 附图3页 CN 114329993 A 2022.04.12 CN 114329993 A 1.一种电子器件软错 误率评估方法， 其特 征在于， 所述方法包括： 获取电子器件的封装材 料释放的粒子的通 量‑能量谱； 对所述电子器件进行反 向分析， 确定所述电子器件的有源区至所述封装材料之间的介 质属性信息； 根据所述通量 ‑能量谱以及所述介质属性信息， 确定所述电子器件在所述有源区的粒 子通量‑有效线性能量 转移值谱； 获取对所述电子器件进行辐照试验获得的所述电子器件的单粒子效应截面值 ‑有效线 性能量转移值谱； 对所述粒子通量 ‑有效线性能量转移值谱和所述单粒子效应截面值 ‑有效线性能量转 移值谱进行运 算， 确定所述电子器件的软错 误率。 2.根据权利要求1所述的方法， 其特征在于， 所述获取电子器件的封装材料释放的粒子 的通量‑能量谱， 包括： 对所述封装材 料进行制样， 获得制样 样本； 采用阿尔法粒子表面发射测量装置， 对所述制样样本进行试验测量， 获取所述封装材 料释放的粒子的通 量‑能量谱； 或， 建立所述封装材 料的封装材 料仿真模型； 对所述封装材料仿真模型进行仿真， 使所述封装材料仿真模型发射粒子， 并提取所述 封装材料仿真模型发射的粒子的出射 参数； 根据所述粒子的出射 参数确定所述封装材 料释放的粒子的通 量‑能量谱。 3.根据权利要求1所述的方法， 其特征在于， 所述介质属性信 息包括： 介质层、 各介质层 的介质厚度信息以及 介质成份信息； 所述根据所述通量 ‑能量谱以及所述介质属性信息， 确定所述电子器件在所述有源区 的粒子通 量‑有效线性能量 转移值谱， 包括： 根据所述介质属性信 息建立所述有源区的仿真模型， 所述有源区的仿真模型包括有源 区层和各 所述介质层； 根据所述通量 ‑能量谱对所述有源区的仿真模型进行仿真， 将所述通量 ‑能量谱对应的 粒子入射所述有源区的仿真模型的介质层， 并在所述有源区的仿真模型的有源区层的表面 获得粒子特性信息， 所述粒子特性信息包括关联的有源区表面能量、 出射角度以及粒子通 量； 基于所述粒子特性信息， 确定所述有源区的粒子通 量‑有效线性能量 转移值谱。 4.根据权利要求3所述的方法， 其特征在于， 所述基于所述粒子特性信息， 确定所述有 源区的粒子通 量‑有效线性能量 转移值谱， 包括： 基于所述有源区表面能量、 出射角度， 确定所述有源区的有效线性能量 转移值； 基于所述粒子通量和所述有源区的有效线性能量转移值， 确定所述有源区的粒子通 量‑有效线性能量 转移值谱。 5.根据权利要求4所述的方法， 其特征在于， 所述基于所述有源区表面能量、 出射角度， 确定所述有源区的有效线性能量 转移值， 包括： 基于粒子的种类以及所述有源区表面能量， 确定线性能量 转移值；权　利　要　求　书 1/2 页 2 CN 114329993 A 2将所述线性能量转移值与 所述出射角度的余弦值相除， 确定所述有源区的有效线性 能 量转移值。 6.根据权利要求1所述的方法， 其特征在于， 所述对所述粒子通量 ‑有效线性能量转移 值谱和所述单粒子效应截面值 ‑有效线性能量转移值谱进行运算， 确定所述电子器件的软 错误率， 包括： 将所述粒子通量 ‑有效线性能量转移值谱和所述单粒子效应截面值 ‑有效线性能量转 移值谱进行积分， 获得 所述电子器件的软错 误率。 7.一种电子器件软错 误率评估装置， 其特 征在于， 所述装置包括： 通量‑能量谱确定模块， 用于获取所述电子器件的封装材料释放的粒子的通量 ‑能量 谱； 介质属性信息确定模块， 用于对所述电子器件进行反向分析， 确定所述电子器件的有 源区至所述封装材 料之间的介质属性信息； 有源区信息确定模块， 用于根据所述通量 ‑能量谱以及所述介质属性信息， 确定所述电 子器件在所述有源区的粒子通 量‑有效线性能量 转移值谱； 电子器件信 息获取模块， 用于获取对所述电子器件进行辐照试验获得的所述电子器件 的单粒子效应截面 值‑有效线性能量 转移值谱； 软错误率确定模块， 用于对所述粒子通量 ‑有效线性能量转移值谱和所述单粒子效应 截面值‑有效线性能量 转移值谱进行运 算， 确定所述电子器件的软错 误率。 8.一种计算机设备， 包括存储器和处理器， 所述存储器存储有计算机程序， 其特征在 于， 所述处 理器执行所述计算机程序时实现权利要求1至 6中任一项所述的方法的步骤。 9.一种计算机可读存储介质， 其上存储有计算机程序， 其特征在于， 所述计算机程序被 处理器执行时实现权利要求1至 6中任一项所述的方法的步骤。 10.一种计算机程序产品， 包括计算机程序， 其特征在于， 该计算机程序被处理器执行 时实现权利要求1至 6中任一项所述的方法的步骤。权　利　要　求　书 2/2 页 3 CN 114329993 A 3