(19)中华 人民共和国 国家知识产权局 (12)发明 专利申请 (10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请 号 202111142344.2 (22)申请日 2021.09.28 (71)申请人 普赛微科技 （杭州） 有限公司 地址 310000 浙江省杭州市临安区青山湖 街道大园路1 188号2幢3层3 034A室 (72)发明人 蒋信　刘瑞盛　喻涛　 (74)专利代理 机构 广州市越秀区哲力专利商标 事务所(普通 合伙) 44288 代理人 孙柳 (51)Int.Cl. G06F 11/22(2006.01) G06F 30/27(2020.01) G06K 9/62(2022.01) G06N 20/00(2019.01) (54)发明名称 一种芯片测试数据判断方法、 装置、 存储介 质及测试方法 (57)摘要 本发明公开一种芯片测试数据判断方法， 包 括以下步骤： 创建机器学习判断模型， 以及获取 并将集成电路芯片的技术文档， 集成电路芯片的 参数的测试数据与参考数据作为所述机器学习 判断模型的数据源对所述机器学习判断模型进 行训练； 然后获取待判断集 成电路芯片的测试数 据； 最后将待判断集成电路芯片的测试数据输入 到训练后的机器学习判断模型进行计算得出计 算结果， 并根据计算结果判断待判断集成电路芯 片是否为正 常芯片。 本发明能够大大提高芯片测 试数据判断的准确率。 本发明还提供一种芯片测 试数据判断装置、 存 储介质及测试方法。 权利要求书2页 说明书8页 附图3页 CN 113900869 A 2022.01.07 CN 113900869 A 1.一种芯片测试 数据判断方法， 其特 征在于， 所述判断方法包括以下步骤： 建模步骤： 选定并创建机器学习判断模型， 以及获取并将集成电路芯片的技术文档， 集 成电路芯片的参数的测试数据与参考数据作为所述机器学习判断模型的数据源对所述机 器学习判断模型进行训练； 所述参考数据包括集成电路芯片为正常芯片或异常芯片时的标 识数据； 数据获取步骤： 获取待判断集成电路芯片的测试 数据； 判断步骤： 将所述待判断集成电路芯片的测试数据输入到训练后的机器学习判断模型 进行计算得 出计算结果， 并根据计算结果判断所述待判断集成电路芯片是否为 正常芯片。 2.根据权利要求1所述的芯片测试数据判断方法， 其特征在于， 所述建模步骤具体包 括： 模型选定步骤： 选 定并创建机器学习 判断模型； 数据处理步骤： 获取集成电路芯片的技术文档、 集成电路芯片的参数的测试数据与参 考数据并生成数据源， 然后将数据源划分为训练数据集和评估数据集； 模型训练步骤： 根据所述训练数据集对所述机器学习判断模型进行训练、 验证后得到 训练后的机器学习 判断模型； 模型评估步骤： 根据所述评估数据集对训练后的机器学习判断模型进行评估， 并根据 评估结果判断训练后的机器学习判断模型是否符合要求； 若是， 则将评估后的机器学习判 断模型作为最终的机器学习判断模型； 若否， 则对创建的机器学习判断模型或数据源中的 数据进行改进， 然后继续执行模型训练步骤， 直到训练后的机器学习判断模型满足评估结 果。 3.根据权利要求2所述的芯片测试数据判断方法， 其特征在于， 所述数据处理步骤还包 括： 对数据源中的数据进行 预处理。 4.根据权利要求3所述的芯片测试数据判断方法， 其特征在于， 所述预处理包括以下处 理中的一种或多种的组合： 数据清洗处 理、 标准化处理和相关性分析处 理。 5.根据权利要求3所述的芯片测试数据判断方法， 其特征在于， 所述数据处理步骤还包 括： 对预处理后的数据进行特征工程； 所述特征工程的方法包括以下方法中的任意一种或 多种的组合： 过滤方法、 封装方法、 嵌入方法和降维分析方法； 对预处理后的数据进行特征 工程处理时， 还包括采用过采样方法或欠采样方法对数据进 行处理； 其中， 所述过采样方法 包括以下方法中的一种或多种： 合 成少数过采样方法、 自适应合成采样方法、 随机过采样方 法和临界过采样方法； 所述欠采样方法包括以下方法中的一种或多种： 压缩最近邻方法、 单 边选择方法和随机欠采样方法。 6.根据权利要求2所述的芯片测试数据判断方法， 其特征在于， 所述机器学习判断模型 为以下模型中的任意一种： 逻辑回归模型、 K近邻模型、 朴素贝叶斯模型、 决策树模型、 聚类 模型、 支持向量机模型、 高斯过程模 型、 随机森林模型、 提升树模型、 神经网络模 型和由上述 模型组合而成的混合模型。 7.根据权利要求1所述的芯片测试数据判断方法， 其特征在于， 所述集成电路芯片为以 下芯片中的任意一种： 数字信号芯片、 模拟信号芯片、 混合信号芯片、 存储芯片和射频芯片； 所述集成电路芯片的参数包括以下参数中的一种或多种： 芯片的管脚信息、 工作温度、 电源 电压、 输入电压、 输入电流、 漏电流、 输出电压、 输出电流、 通讯协议、 时钟频率、 数据设置时权　利　要　求　书 1/2 页 2 CN 113900869 A 2间、 数据保持时间、 信噪比、 总谐波形变、 放大倍数、 噪声基底、 互调失真、 抖动和相位噪声。 8.一种芯片测试数据判断装置， 包括存储器、 处理器以及存储在存储器上并在处理器 上运行的计算机程序， 所述计算机程序为测试数据判断程序， 其特征在于， 所述处理器执行 所述测试数据判断程序时实现如权利要求 1‑7中任一项所述的一种芯片测试数据判断方法 的步骤。 9.一种存储介质， 所述存储介质为计算机可读存储介质， 其上存储有计算机程序， 所述 计算机程序为测试数据判断程序， 其特征在于： 所述测试数据判断程序被处理器执行如权 利要求1‑7中任意一项所述的一种芯片测试 数据判断方法的步骤。 10.一种芯片测试 方法， 其特 征在于， 所述测试 方法包括： 测试步骤： 对待测试集成电路芯片进行测试并得 出测试数据； 判断步骤： 根据权利要求1 ‑7中任意一项所述的一种芯片测试数据判断方法对待测试 集成电路芯片的测试 数据进行判断， 以得 出待测试集成电路芯片的测试 结果。权　利　要　求　书 2/2 页 3 CN 113900869 A 3