(19)中华 人民共和国 国家知识产权局 (12)发明 专利申请 (10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请 号 202111524769.X (22)申请日 2021.12.14 (71)申请人 佛山市天禄智能装备 科技有限公司 地址 528000 广东省佛山市禅城区智慧路4 号十五座 一至二层 (72)发明人 李政　周积礼　邓苑营　欧文龙　 谭永荣　 (74)专利代理 机构 广州三环 专利商标代理有限 公司 44202 代理人 曹万菊 (51)Int.Cl. G06F 30/27(2020.01) G06F 119/02(2020.01) G06F 119/04(2020.01) G06F 119/08(2020.01)G06F 119/14(2020.01) (54)发明名称 辊道窑的硅碳棒的检测方法、 计算机 设备及 可读存储介质 (57)摘要 本发明公开了一种辊道窑的硅碳棒的检测 方法， 包括： 实时获取硅碳棒的电流信息及电压 信息； 根据所述电流信息及电压信息计算电阻信 息； 将所述电阻信息与第一预设电阻及第二预设 电阻进行比对， 所述第一预设电阻大于所述第二 预设电阻， 其中， 当所述电阻信息大于第一预设 电阻时， 则表示所述硅碳棒断裂， 当所述电阻信 息大于第二预设电阻且小于第一预设电阻时， 则 表示所述硅碳棒老化； 当所述电阻信息小于第二 预设电阻时， 则表示所述述硅碳棒正常。 本发明 还公开了一种计算机设备及一种计算机可读存 储介质。 采用本发明， 实现硅碳棒的有效检测， 为 辊道窑的正常运行提供有效保障。 权利要求书1页 说明书5页 附图4页 CN 114297915 A 2022.04.08 CN 114297915 A 1.一种辊道窑的硅碳 棒的检测方法， 其特 征在于， 包括： 实时获取硅碳 棒的电流信息及电压信息； 根据所述电流信息及电压信息计算电阻信息； 将所述电阻信 息与第一预设电阻及第 二预设电阻进行比对， 所述第 一预设电阻大于所 述第二预设电阻， 其中， 当所述电阻信息大于第一预设电阻时， 则表示所述硅碳 棒断裂， 当所述电阻信息大于第二预设电阻且小于第一预设电阻时， 则表示所述硅碳 棒老化； 当所述电阻信息小于第二预设电阻时， 则表示所述硅碳 棒正常。 2.如权利要求1所述的辊道窑的硅碳 棒的检测方法， 其特 征在于， 还 包括： 提取硅碳棒的基准信息， 所述基准数据包括不同时间点的环境温度信息、 环境湿度信 息、 氧气含量信息及通电 电压信息； 将所述基准信息 输入预先训练好的硅碳 棒老化模型， 以预测所述硅碳 棒的使用寿命。 3.如权利要求2所述的辊道窑的硅碳棒的检测方法， 其特征在于， 构建所述老化模型的 步骤包括： 获取硅碳 棒样本的样品基准信息； 将所述样品基准信息 输入神经网络模型， 以生成硅碳 棒老化模型。 4.如权利要求3所述的辊道窑的硅碳棒的检测方法， 其特征在于， 所述将样品基准信 息 输入神经网络模型之前还包括： 将所述样品基准信息与样品电阻信息进行相关性分析， 以 筛选所述样品基准信息 。 5.如权利要求3所述的辊道窑的硅碳棒的检测方法， 其特征在于， 所述神经网络模型的 损失函数为Huber  Loss损失函数。 6.如权利要求1或2所述的辊道窑的硅碳 棒的检测方法， 其特 征在于， 还 包括： 获取硅碳 棒样本的样本电阻信息， 并根据所述样本电阻信息构建电阻曲线模型； 将硅碳棒的电阻信息 输入所述电阻曲线模型， 以预测所述硅碳 棒的使用寿命。 7.如权利要求6所述的辊道窑的硅碳棒的检测方法， 其特征在于， 还包括： 根据所述硅 碳棒老化模型 预测出的使用寿命及电阻曲线模型 预测出的使用寿命， 生成最佳使用寿命。 8.如权利要求1所述的辊道窑的硅碳棒的检测方法， 其特征在于， 所述实时获取硅碳棒 的电流信息及电压信息的步骤包括： 实时获取可控硅采集的硅碳棒的电流信息及电压信 息。 9.一种计算机设备， 包括存储器和处理器， 所述存储器存储有计算机程序， 其特征在 于， 所述处 理器执行所述计算机程序时实现权利要求1至8中任一项所述的方法的步骤。 10.一种计算机可读存储介质， 其上存储有计算机程序， 其特征在于， 所述计算机程序 被处理器执行时实现权利要求1至8中任一项所述的方法的步骤。权　利　要　求　书 1/1 页 2 CN 114297915 A 2辊道窑的硅碳棒的检测方 法、 计算机设 备及可读存储介质 技术领域 [0001]本发明涉及辊道窑技术领域， 尤其涉及一种辊道窑的硅碳棒的检测方法、 一种计 算机设备及一种计算机可读存 储介质。 背景技术 [0002]硅碳棒是用高纯度绿色六方碳化硅为主要原料， 按一定料比加工制坯， 经2200℃ 高温硅化再结晶烧结而制成的棒状、 管状非金属高温电热元件； 其已被广泛应用于电子、 磁 性材料、 粉末冶金、 陶瓷、 玻璃、 半导体、 分析化验、 科学研究等高温领域， 成为隧道窑、 辊道 窑、 玻璃窑炉、 真空炉、 马弗炉、 冶炼炉以及各类加热设备的电加热 元件。 [0003]目前， 硅碳棒的使用寿命是指硅碳棒从安装到设备上使用时起， 到不能正常工作 为止的期限。 也就是说， 硅碳棒的寿命并没有一个明确的时限， 只是一个相对值， 而且现在 许多厂家对这个概念并不太清楚， 或者不关注， 只是关心硅碳棒用到弯曲、 断损或不 发热所 需的时间， 显然这是不科 学的。 [0004]因此， 需要研发一种新的检测方法对硅碳棒进行全方位的监控， 从而保证辊道窑 的正常使用。 发明内容 [0005]本发明所要解决的技术问题在于， 提供一种辊道窑的硅碳棒的检测方法、 计算机 设备及计算机可读存储介质， 可实现硅碳棒的有效检测， 为辊道窑的正常运行提供有效保 障。 [0006]为了解决上述技术问题， 本发明提供了一种辊道窑的硅碳棒的检测方法， 包括： 实 时获取硅碳棒的电流信息及电压信息； 根据所述电流信息及电压信息计算电阻信息； 将所 述电阻信息与第一预设电阻及第二预设电阻进行比对， 所述第一预设电阻大于所述第二预 设电阻， 其中， 当所述电阻信息大于第一预设电阻时， 则表示所述硅碳棒断裂， 当所述电阻 信息大于第二预设电阻且小于第一预设电阻时， 则表示所述硅碳棒老化； 当所述电阻信息 小于第二预设电阻时， 则表示所述 述硅碳棒正常。 [0007]作为上述方案 的改进， 所述辊道窑的硅碳棒的检测方法还包括： 提取硅碳棒的基 准信息， 所述基准数据包括不同时间点的环境 温度信息、 环 境湿度信息、 氧气含量信息及通 电电压信息； 将所述基准信息输入预先训练好的硅碳棒老化模型， 以预测所述硅碳棒的使 用寿命。 [0008]作为上述方案 的改进， 构建所述老化模型的步骤包括： 获取硅碳棒样本的样品基 准信息； 将所述样品基准信息 输入神经网络模型， 以生成硅碳 棒老化模型。 [0009]作为上述方案 的改进， 所述将样品基准信息输入神经网络模型之前还包括： 将所 述样品基准信息与样品电阻信息进行相关性分析， 以筛 选所述样品基准信息 。 [0010]作为上述方案的改进， 所述神经网络模型的损失函数为Huber  Loss损失函数。 [0011]作为上述方案 的改进， 所述辊道窑的硅碳棒的检测方法还包括： 获取硅碳棒样本说　明　书 1/5 页 3 CN 114297915 A 3