(19)中华 人民共和国 国家知识产权局 (12)发明 专利申请 (10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请 号 202111492400.5 (22)申请日 2021.12.08 (71)申请人 上海电气集团股份有限公司 地址 200336 上海市长 宁区兴义路8号3 0层 (72)发明人 张祎　李新宇　谈芦益　 (74)专利代理 机构 上海光华专利事务所(普通 合伙) 31219 代理人 李治东 (51)Int.Cl. F01D 21/00(2006.01) F01D 5/18(2006.01) G06F 30/28(2020.01) G06F 113/08(2020.01) G06F 119/14(2020.01) G06F 119/08(2020.01) (54)发明名称 叶栅气膜冷却试验的测量修正方法、 装置、 设备及介质 (57)摘要 本发明提供一种叶栅气膜冷却试验的测量 修正方法， 应用于试验件叶片， 其上划分有测量 区域和测量修正区域， 所述方法包括： 获取所述 试验件叶片的壁面温度、 外部流体温度和冷气温 度； 通过计算分别得到所述测量区域对应的测量 气膜冷却有效度和所述测量修正区域对应的修 正气膜冷却有效度； 基于测量修正模型， 通过所 述修正气膜冷却有效度对所述测量气膜冷却有 效度进行修正， 得到所述试验件叶片的绝热气膜 冷却有效度。 本申请采用集测量部分与测量修正 部分于同一试验件上的试验测量方法， 避免了大 量重复性试验， 避免了实验 过程中拆装试验台产 生的一些不确定因素对实验产生的负面影响。 权利要求书2页 说明书9页 附图3页 CN 114151148 A 2022.03.08 CN 114151148 A 1.一种叶栅气膜冷却试验的测量修正方法， 其特征在于， 应用于试验件叶片， 其上划分 有测量区域和 测量修正区域， 所述方法包括： 获取所述试验 件叶片的壁 面温度、 外 部流体温度和冷气温度； 通过计算分别得到所述测量区域对应的测量气膜冷却有效度和所述测量修正区域对 应的修正气膜冷却有效度； 基于测量修正模型， 通过所述修正气膜冷却有 效度对所述测量气膜冷却有 效度进行修 正， 得到所述试验 件叶片的绝热气膜冷却有效度。 2.根据权利要求1所述的叶栅气膜冷却试验的测量修正方法， 其特征在于， 所述试验件 叶片沿其外 部流体流向包括前端和后端， 在靠 近前端的一侧设有供气室； 所述试验件叶片的压力面与吸力面上分别划分有靠近所述供气室的测量修正区域和 远离所述供气室的测量区域； 其中， 所述测量区域设有一或多排气膜孔， 用于计算所述试验件叶片对应不同曲率处 的气膜冷却有效度； 所述供气室用于向所述气膜孔 提供冷气并对其 流量进行控制。 3.根据权利要求2所述的叶栅气膜冷却试验的测量修正方法， 其特征在于， 所述测量 区 域和所述测量修正区域之 间设有若干引压孔， 用于所述试验件叶片不同曲率处压力分布的 测量和调节以及吹风比的计算。 4.根据权利要求3所述的叶栅气膜冷却试验的测量修正方法， 其特征在于， 所述吹风比 的计算公式为： 其中， ρc、 uc分别为冷气流的密度和速度； ρr、 ur分别为外 部流体的密度和速度。 5.根据权利要求1所述的叶栅气膜冷却试验的测量修正方法， 其特征在于， 所述测量气 膜冷却有效度的计算公式为： 所述修正气膜冷却有效度的计算公式为： 其中， Twr为所述测量区域对应的壁面温度； Tws为所述测量修正区域对应的壁面温度； Tr 为所述试验 件叶片的外 部流体温度； Tc为冷气温度。 6.根据权利要求5所述的叶栅气膜冷却试验的测量修正方法， 其特征在于， 所述基于测 量修正模式得到的所述 绝热气膜冷却有效度的计算公式为： 其中， ηr为有所述气膜孔覆盖的所述测量区域的测量气膜冷却有效度； ηs为无所述气膜 孔覆盖的所述测量 修正区域的修 正气膜冷却有效度。 7.根据权利要求1所述的叶栅气膜冷却试验的测量修正方法， 其特征在于， 所述方法还 包括： 当所述试验件叶片达到流动和传热 的稳定状态时， 通过改变所述试验件叶片的壁面 温度和热流密度， 依据牛 顿冷却定律得到所述测量区域对应的换 热系数的计算公式为：权　利　要　求　书 1/2 页 2 CN 114151148 A 2所述测量 修正区域对应的换 热系数的计算公式为： 其中， Twr， i、 Tws， i分别为第i次的所述测量区域和所述测量修正区域对应的壁面温度的 测量值； 分别为i次的所述测量区域和所述测量修正区域对应的壁面温度的平均 计算值； qi为第i次的所述试验件叶片的壁面热流密度的测量值； 为i次的所述试验件叶片 壁面热流密度的平均计算 值。 8.一种叶栅气膜冷却试验的测量 修正装置， 其特 征在于， 所述装置包括： 获取模块， 用于获取 所述试验 件叶片的壁 面温度、 外 部流体温度和冷气温度； 处理模块， 用于通过计算分别得到所述测量 区域对应的测量气膜冷却有 效度和所述测 量修正区域对应的修 正气膜冷却有效度； 修正模块， 用于基于测量修正模型， 通过所述修正气膜冷却有效度对所述测量气膜冷 却有效度进行修 正， 得到所述试验 件叶片的绝热气膜冷却有效度。 9.一种计算机设备， 其特 征在于， 所述设备包括： 存 储器及处 理器； 所述存储器用于存储计算机程序； 所述处理器用于执行所述存储器存储的计算机程 序， 以使所述设备 执行如权利要求1至7中任一项所述叶栅气膜冷却试验的测量 修正方法。 10.一种计算机可读存储介质， 其特征在于， 其上存储有计算机程序， 所述程序被处理 器执行时实现权利要求1至7中任一项所述叶栅气膜冷却试验的测量 修正方法。权　利　要　求　书 2/2 页 3 CN 114151148 A 3