(19)国家知识产权局 (12)发明 专利申请 (10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请 号 20221085464 4.1 (22)申请日 2022.07.20 (71)申请人 惠州威尔高电子有限公司 地址 516155 广东省惠州市博罗县麻陂镇 龙苑工业区建 设路116号 (72)发明人 陈星　龙富强　 (74)专利代理 机构 广州市时代知识产权代理事 务所(普通 合伙) 44438 专利代理师 陈惠珠 (51)Int.Cl. G06T 7/00(2017.01) G06N 3/04(2006.01) G06T 7/62(2017.01) G06V 10/26(2022.01) G06V 10/762(2022.01)G06V 10/82(2022.01) (54)发明名称 一种PCB板表面 缺陷检测方法 (57)摘要 本发明涉及图像处理技术领域， 具体涉及一 种PCB板表面缺陷检测方法， 该方法包括： 获取 PCB板上的金手指区域并将其划分为反光区域和 不反光区域， 获取反光区域中的划痕预测的第一 预测值、 第二预测值、 第三预测值， 获取反光区域 中的划痕预测的综合预测值， 获取不反光区域内 的划痕及划痕的主延伸方向、 划痕宽度、 划痕深 度， 根据划痕的主延伸方向、 划痕宽度、 划痕深度 及反光区域中的划痕预测的综合预测值计算对 应的反光区域中存在划痕的概率， 根据概率及概 率阈值确定目标反光区域并对其进行图像增强， 根据增强后图像的划痕及该金手指区域的不反 光区域的划痕确定最终划痕， 本发 明方法实现对 划痕的精确检测， 以便于对PCB板的质量进行精 确判断。 权利要求书3页 说明书10页 附图1页 CN 115082431 A 2022.09.20 CN 115082431 A 1.一种PCB板表面 缺陷检测方法， 其特 征在于， 该 方法包括： 获取PCB板上的所有金手指区域， 将每 个金手指区域划分为反光区域和不反光区域； 将所有反光区域与 所有金手指区域的面积比值作为第 一预测值， 将每个反光 区域的面 积与其对应金手指区域的面积比值作为第二预测值， 根据反光区域在同一个金手指区域的 不同位置的面积比值计算第三预测值； 根据第一预测值、 第 二预测值及第 三预测值计算每个金手指区域的反光 区域中的划痕 预测的综合预测值； 获取不反光区域内的划痕及划痕所在的金手指区域， 根据划痕所在的不反光 区域中划 痕像素点的灰度值、 正常像素点的灰度值获取该不反光区域中划痕深度； 根据划痕所在的 不反光区域中的划痕像素点 坐标分别计算划痕的主延伸方向、 划痕宽度； 根据每个金手指区域的不反光区域中划痕的主延伸方向、 划痕深度、 划痕宽度和对应 的金手指区域中反光区域的综合预测值计算对应的反光区域中存在划痕的概 率； 根据反光区域中存在划痕的概率及预设的概率阈值判断该反光区域是否为目标反光 区域， 对得到的目标反光区域进 行图像增强， 获取增强后的图像中的划痕， 根据每个金手指 区域的增强后的图像的划痕与不反光区域的划痕确定每 个金手指区域中最终划痕。 2.根据权利要求1所述的一种PCB板表面缺陷检测方法， 其特征在于， 根据反光区域在 同一个金手指区域的不同位置的面积比值计算第三预测值的步骤 包括： 根据每个金手指区域的长度将每 个金手指区域均分为 三个子区域； 根据金手指区域中每个子区域内反光区域的面积与对应子区域面积的比值计算第三 预测值。 3.根据权利要求1所述的一种PCB板表面缺陷检测方法， 其特征在于， 计算第三预测值 的公式： 式中， 表示第 个金手指区域对应的第三预测值； 表示第 个金手指区域中的第1个子区域内反光区域的像素点个数； 表示第 个金手指区域中的第2个子区域内反光区域的像素点个数； 表示第 个金手指区域中的第3个子区域内反光区域的像素点个数； 表示第 个金手指区域中的第1个子区域的像素点个数； 表示第 个金手指区域中的第2个子区域的像素点个数； 表示第 个金手指区域中的第3个子区域的像素点个数； 表示第 个金手指区域中的第1个子区域的权 重； 表示第 个金手指区域中的第2个子区域的权 重； 表示第 个金手指区域中的第3个子区域的权 重。权　利　要　求　书 1/3 页 2 CN 115082431 A 24.根据权利要求1所述的一种PCB板表面缺陷检测方法， 其特征在于， 计算每个金手指 区域中反光区域的划痕预测的综合预测值的公式： 式中， 表示第 个金手指区域中反光区域中的划痕预测的综合预测值； 表示反光区域中的划痕预测的第一预测值； 表示第 个金手指区域的反光区域中的划痕预测的第二预测值； 表示第 个金手指区域的反光区域中的划痕预测的第三预测值。 5.根据权利要求1所述的一种PCB板表面缺陷检测方法， 其特征在于， 获取不反光区域 内的划痕及划痕所在的金手指区域的步骤 包括： 以不反光区域内每 个像素点为中心点获取滑窗； 计算滑窗内每个像素点的灰度值与 该滑窗内所有像素点的第 一灰度平均值的差值， 将 所有差值的平均值作为该滑窗的灰度差异值； 根据滑窗的灰度差异值与预设的灰度差异值阈值确定滑窗中的目标滑窗及其 余滑窗； 计算其余滑窗内所有像素点的第二灰度平均值； 根据第二灰度平均值与灰度差异值阈值获取 灰度值范围； 根据灰度值范围及目标滑窗内每 个像素点的灰度值确定划痕像素点； 获取划痕像素点的聚集区域并将其作为划痕， 确定划痕所在的金手指区域。 6.根据权利要求1所述的一种PCB板表面缺陷检测方法， 其特征在于， 根据划痕所在的 不反光区域中划痕像素点的灰度值、 正常像素点的灰度值获取该不反光区域中划痕深度的 步骤包括： 计算金手指区域的不反光区域中所有划痕像素点的灰度均值； 并计算该 金手指区域的不反光区域中所有正常像素点的灰度均值； 将金手指区域的不反光区域中所有划痕像素点的灰度均值与该金手指区域的不反光 区域中所有正常像素点的灰度均值的差值的绝对值作为该金手指区域的不反光区域中划 痕深度。 7.根据权利要求1所述的一种PCB板表面缺陷检测方法， 其特征在于， 根据划痕所在的 不反光区域中的划痕像素点 坐标计算划痕的主延伸方向的步骤 包括： 获取每个划痕所在的不反光区域中的划痕像素点坐标中的最大横坐标、 最小横坐标、 最大纵坐标及最小纵坐标； 根据每个划痕的划痕像素点坐标中的最大横坐标、 最小横坐标、 最大纵坐标及最小纵 坐标计算对应划痕的斜 率； 根据划痕的斜 率获取不反光区域中划痕的主延伸方向。 8.根据权利要求1所述的一种PCB板表面缺陷检测方法， 其特征在于， 根据划痕所在的 不反光区域中的划痕像素点 坐标计算划痕宽度的步骤 包括： 获取每个划痕所在的不反光区域中同一纵坐标的划痕像素点中横坐标最大的第一划 痕像素点、 横坐标最小的第二划痕像素点； 计算划痕中同一纵坐标的划痕像素点中的第一划痕像素点与第二划痕像素点的横坐 标差值， 并计算划痕中所有横坐标差值的和值；权　利　要　求　书 2/3 页 3 CN 115082431 A 3