(19)国家知识产权局 (12)发明 专利申请 (10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请 号 202210964584.9 (22)申请日 2022.08.11 (71)申请人 昂坤视觉 （北京） 科技有限公司 地址 102206 北京市昌平区昌平路97号 新 元科技园B座5 03室 (72)发明人 李瑞青　王林梓　路膨　马铁中　 (74)专利代理 机构 北京华沛德权律师事务所 11302 专利代理师 房德权 (51)Int.Cl. B07C 5/02(2006.01) B07C 5/34(2006.01) B07C 5/36(2006.01) B08B 1/00(2006.01) G01N 21/88(2006.01)G01N 21/95(2006.01) H01L 21/67(2006.01) (54)发明名称 一种用于芯片检测的分选方法及装置 (57)摘要 本发明公开了一种用于芯片检测的分选方 法及装置， 该分选方法快速将控制料盘输送到承 接检测后芯片的位置和承接标记NG件芯片 的位 置， 在芯片逐个检测的过程中， 达到芯片检测完 就直接搬运到空置料盘上， 减少搬运次数， 提高 效率， 以芯片检测位检测到的数据作为参考， 快 速的进行OK件和NG件的分选操作， 不论 芯片的良 品率是多少， 都可 以高效快速的进行分选， 并以 整盘OK件或者整盘N G件进行输出， 配合料盘可快 速输送至不同的芯片承接位， 提高操作效率， 避 免人工参与加工， 提高分选效率和分选准确性， 适应芯片的检测节拍， 提高芯片检测的整体效 率。 权利要求书2页 说明书19页 附图13页 CN 115254648 A 2022.11.01 CN 115254648 A 1.一种用于芯片检测的分选方法， 其特 征在于， 其包括： 取至少两个空置料盘在第 一轨道上移动， 直至位于第 一横向架体上的第 二转运机构的 移动路径下； 第二转运机构抓取一个空置料盘到第 二轨道上， 直至该空置料盘移动到第 一转运机构 的移动路径下， 用于承接NG件； 第二转运机构抓取另一个空置料盘到第四轨道上， 以用于移动到承接检测后芯片的工 位处； 取装有芯片的料盘到第三轨道上， 以用于输送到芯片检测工位进行检测， 检测后的芯 片放置到第四轨道上的空置料盘中， 并将装有检测后芯片的料盘在第四轨道上输送至第二 转运机构的移动路径下 方； 第二转运机构抓取装有检测后芯片的料盘到第五轨道上， 并驱动该料盘在第五轨道上 移动到第一 转运机构的移动路径下； 第一转运机构抓取第五轨道上料盘中的NG件， 移动并放置到第二轨道上的空置料盘 上； 第二个装有芯片的料盘由第 三轨道进入芯片检测工位进行检测， 检测后的芯片放到第 四轨道上的空置料盘中， 并将装有检测 后芯片的料盘在第四轨道上输送至第一转运机构的 移动路径下； 第一转运机构抓取第四轨道上料盘中的NG件， 移动并放置到第二轨道上的空置料盘 上， 然后第一转运机构抓取第五轨道上料盘中的OK件， 并将该OK件移动到第四轨道上的料 盘中因剔除NG件所空出的芯片位置上， 直至第四轨道上的料盘中放满OK件。 2.如权利要求1所述用于芯片检测的分选方法， 其特征在于： 当第五轨道上的料盘中OK 件全部补充到后续料盘中NG件剔除后的空位中， 该第五轨道上的料盘再次移动到第一轨道 上， 并作为 新的空置料盘使用。 3.一种用于芯片检测的分选装置， 用以执行如权利要求1 ‑2所述的用于芯片检测的分 选方法， 其特 征在于， 其包括： 相互平行设置的第一轨道、 第二轨道、 第三轨道、 第四轨道和第五轨道； 第一横向架体， 架设在所述第一轨道、 所述第二轨道、 所述第三轨道、 所述第 四轨道和 所述第五轨道上； 装设在所述第 一横向架体两侧的第 一转运轨道与第 二转运轨道， 所述第 一转运轨道上 设有第一转运机构， 所述第一转运机构包括位移组件和芯片抓取组件， 所述第二转运轨道 上设有第二转运机构， 所述第二转运机构包括位移组件和料盘抓取组件， 两个所述位移组 件分别设在所述第一转运轨道与所述第二转运轨道上移动， 所述芯片抓取组件用于抓取芯 片并跟随所述 位移组件移动， 所述料盘抓取组件用于抓取 料盘并跟随所述 位移组件移动。 4.如权利要求3所述用于芯片检测的分选装置， 其特征在于： 所述第 一横向架体的长度 延伸方向与第一轨道的长度延伸方向垂直设置 。 5.如权利要求3所述用于芯片检测的分选装置， 其特征在于： 所述第一轨道、 所述第二 轨道、 所述第三轨道、 所述第四轨道和所述第 五轨道的两端分别延伸至所述第一横向架体 的两侧。 6.如权利要求3所述用于芯片检测的分选装置， 其特征在于： 所述位移 组件包括驱动电权　利　要　求　书 1/2 页 2 CN 115254648 A 2机， 所述驱动电机的输出轴 上设置有齿轮， 所述第一转运轨道和所述第二转运轨道上设有 用于与所述齿轮啮合的凸齿。 7.如权利要求3所述用于芯片检测的分选装置， 其特征在于： 所述芯片抓取组件包括吸 盘， 所述吸盘的两端之间相连通设置， 所述吸盘的一端连接有用于抽真空的活塞， 另一端用 于吸取芯片。 8.如权利要求7所述用于芯片检测的分选装置， 其特征在于： 所述吸盘远离所述活塞的 一端设有缓冲件。 9.如权利要求3所述用于芯片检测的分选装置， 其特征在于： 所述料盘抓取组件包括两 块用于延伸至所述料盘两侧的夹板， 两块所述夹板之间设有推拉部件， 所述推拉部件用于 驱动两块所述夹 板相互靠 近或者远离 。 10.如权利要求3所述用于芯片检测的分选装置， 其特征在于： 所述第 一轨道、 所述第 二 轨道、 所述第三轨道、 所述第四轨道和所述第五轨道远离 芯片检测位的一侧， 分别设有放盘 机构， 所述放盘机构包括： 顶升杆和承托部件， 所述顶升杆的一端延伸至所述料盘下， 另一 端装设有用于驱动所述顶升杆升降的推拉部件， 所述承托部件装设在所述料盘的两侧， 所 述料盘底部具有承托槽， 所述承托部件具有可伸入所述承托槽内并承托所述料盘的伸缩 端。权　利　要　求　书 2/2 页 3 CN 115254648 A 3