(19)国家知识产权局 (12)发明 专利申请 (10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请 号 202211151634.8 (22)申请日 2022.09.21 (71)申请人 中国航空工业标准件制造有限责任 公司 地址 550014 贵州省贵阳市白云区白云南 路355号 (72)发明人 李茂真　蒋玲欢　段前坤　王恩洪　 夏侯　袁贵川　 (74)专利代理 机构 贵阳东圣专利商标事务有限 公司 520 02 专利代理师 徐逸心 (51)Int.Cl. G01N 1/28(2006.01) G01N 1/32(2006.01) (54)发明名称 一种制备显微维氏硬度试样的方法 (57)摘要 本发明公开了本发明的一种制备显微维氏 硬度试样的方法， 其特征是， 包括以下步骤； 确定 测试面， 冷镶嵌处理， 去除多 余冷镶嵌料， 热镶嵌 处理， 处理硬度测试面。 本发防止制样变形对显 微维氏硬度测试结果产生不良影 响， 同时保证试 样测试面与支持面的平行度， 以提高显微维氏硬 度测试准确性和稳定性。 权利要求书1页 说明书2页 附图2页 CN 115452519 A 2022.12.09 CN 115452519 A 1.一种制备显微维氏硬度试样的方法， 其特 征是， 包括以下步骤； 确定测试面； 首先确定空心薄壁零件 （1） 的显微维氏硬度测试面， 若测试纵向截面时需将空心薄壁 零件沿纵向剖切； （2） 冷镶嵌处 理； 将零件硬度测试面朝下放入镶嵌模具中， 加入冷镶嵌料 （2） ， 冷镶嵌料 （2） 不宜过多， 保 证冷镶嵌料 （2） 全部覆盖测试零件即可； （3） 去除多余冷镶嵌料； 待冷镶嵌料 （2） 固化后保留零件空心处的 （2） ， 去除其它部位多余 （2） 以不影响热镶嵌 操作为宜； （4） 热镶嵌处 理； 将空心充满冷镶嵌料的试样放入热镶嵌设备、 保证硬度测试面朝下放置， 加入热镶嵌 料 （3） 进行 热镶嵌处 理； （5） 处理硬度测试面； 采用砂纸打磨和抛光处 理硬度测试面， 最后便可测试显微维氏硬度。权　利　要　求　书 1/1 页 2 CN 115452519 A 2一种制备显微维氏硬度试样的方 法 技术领域 [0001]本发明属于维氏硬度技 术领域， 具体地说是一种制备显微维氏硬度试样的方法。 背景技术 [0002]镶嵌法是显微维氏硬度检测小尺寸异形零件常用的制样 方法。 使用镶 嵌制样的主 要目的是使异形零件的硬度检测面与支撑面相对平行， 确保异形零件可顺利测试显微维氏 硬度并使测试结果具有较高的准确 性和稳定性。 现有技术中， 镶嵌制样可分为冷镶嵌和热 镶嵌两种制样方式， 冷镶嵌制样即采用冷镶嵌料在无需加热、 加压的条件下进 行制备， 其优 点是无需专用镶嵌设备、 特别适用于对加热、 加压敏感的试样制备， 对于显微维氏硬度测 试， 冷镶嵌方法的缺点为硬度测试面和支撑面平行度较差， 影响硬度测试精度和稳定性。 热 镶嵌即采用热镶嵌料在专用设备里加热、 加压的条件下进行制备， 对于显微 维氏硬度测试， 热镶嵌方法的优点为硬度测试面与支撑面平行度较好， 缺点为不适用对加热、 加压敏感的 试样， 尤其不适用空心薄壁试样的制备， 因热镶嵌时加压会导致空心薄壁零件变形影响显 微维氏硬度测试 结果。 发明内容 [0003]本发明的目的在于克服上述缺点而提供的一种防止制样变形对显微维氏硬度测 试结果产生不良影响， 同时保证试样测试面与支持面的平行度， 以提高显微维氏硬度测试 准确性和稳定性的制备显微维氏硬度试样的方法。 [0004]本发明的目的及解决其主 要技术问题是采用以下技 术方案来实现的: 本发明的一种制备显微维氏硬度试样的方法， 其特 征是， 包括以下步骤； （1） 确定测试面； 首先确定空心薄壁零件的显微维氏硬度测试面， 若测试纵向截面时需将空心薄壁 零件沿纵向剖切； （2） 冷镶嵌处 理； 将零件硬度测试面朝下放入镶 嵌模具中， 加入冷镶 嵌料， 镶嵌料不宜过多， 保证镶 嵌料全部覆盖测试零件即可； （3） 去除多余冷镶嵌料； 待冷镶嵌料固化后保 留零件空心处的冷镶 嵌料， 去除其它部位多余冷镶 嵌料以不 影响热镶嵌操作为宜； （4） 热镶嵌处 理； 将空心充满冷镶嵌料的试样放入热镶嵌设备、 保证硬度测试面朝下放置， 加入热 镶嵌料进行 热镶嵌处 理； （5） 处理硬度测试面； 采用砂纸打磨和抛光处 理硬度测试面， 最后便可测试显微维氏硬度。 [0005]本发明与现有技术相比， 具有明显的有益效果； 从以上技术方案可知： 通过用耐高说　明　书 1/2 页 3 CN 115452519 A 3