(19)国家知识产权局 (12)发明 专利申请 (10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请 号 202211076336.7 (22)申请日 2022.09.05 (71)申请人 苏州帕维纳尔智能科技有限公司 地址 215000 江苏省苏州市中国 （江苏） 自 由贸易试验区苏州片区苏州工业园东 平街287号广鸿大厦3层315A室 (72)发明人 罗翔　宋传水　 (51)Int.Cl. G06T 7/00(2017.01) G06T 5/00(2006.01) G06V 10/52(2022.01) G06V 10/80(2022.01) (54)发明名称 一种针对高纵横比工件缺陷的增强型检测 方法 (57)摘要 本发明公开了一种针对高纵横比工件缺陷 的增强型检测方法， 通过组合高纵横比工件横向 排列并通过线扫相机获取待检测图像， 对待检测 图像进行十次锐化处理， 获得十张锐化图像， 随 后对十张锐化图像分别做保亮度的高细节增强 图像， 并分别对十张高细 节增强的锐化图像提取 特征缺陷， 在十张高细 节增强的锐化图像上获取 图像缺陷特征区域， 最后对十张锐化图像上的 图 像缺陷特征区域进行对比， 去除离散度较大的锐 化图像， 取六张近似的锐化图像竞合获得准确的 缺陷特征， 从而检测出高纵横比工件的缺陷特 征， 本发明的优点在于通过组合高纵横比工件的 方法缩小纵横比， 便于后续的图像处理， 同时处 理出十张锐化图像并进行缺陷特征提取和比较 来获取准确的缺陷特 征。 权利要求书1页 说明书4页 CN 115511792 A 2022.12.23 CN 115511792 A 1.一种针对高纵横比工件缺陷的增强型检测方法， 其特 征在于： 包括以下步骤： S1、 将高纵横比工件横向排列并通过线扫相机获取待检测图像， 设置待检测图像中的 纵横比为1： 1， 并在待检测图像下 上对每一个参与排列组合的高纵横比工件进行排列组合； S2、 对S1中获得的待检测图像进行十次锐化处 理， 获得十张锐化图像； S3、 对十张锐化图像分别做保亮度的高细节增强图像， 并分别对十张高细节增强的锐 化图像提取 特征缺陷， 在十张高细节增强的锐化图像上获取图像缺陷特 征区域； S4、 对十张高细节增强的锐化图像上的图像缺陷特征区域进行对比， 去除离散度较大 的锐化图像， 取六张图像缺陷特征区域近似的锐化图像竞合获得准确的缺陷特征， 从而检 测出高纵横比工件的缺陷特 征。 2.根据权利要求1所述的一种针对高纵横比工件缺陷的增强型检测方法， 其特征在于： S1中， 对每一个参与排列组合的高纵横比工件进 行排列组合的同时对每一个参与排列组合 的高纵横比工件进行 标号。 3.根据权利要求2所述的一种针对高纵横比工件缺陷的增强型检测方法， 其特征在于： S1中， 通过线扫相 机获取待检测图像后对待检测图像建立坐标系， 并根据参与排列 组合的 高纵横比工件的标号在坐标系中建立各高纵横比工件间在待检测图像上的分割线。 4.根据权利要求3所述的一种针对高纵横比工件缺陷的增强型检测方法， 其特征在于： S4中， 根据标号和分割线将检测出 的缺陷特征分散至每个高纵横比工件上， 从而获得每个 高纵横比工件上的准确缺陷特 征。 5.根据权利要求1所述的一种针对高纵横比工件缺陷的增强型检测方法， 其特征在于： S2中， 首先对S1中获得的待检测图像进行双边伽 马校正， 获取两幅校正图像， 将两幅校正图 像进行多尺度图像融合， 获取一加强图像， 随后对加强图像进 行十次锐化处理， 获得十张锐 化图像。 6.根据权利要求4所述的一种针对高纵横比工件缺陷的增强型检测方法， 其特征在于： S2中， 根据伽 马校正算法设计两条校正曲线， 通过上边伽 马校正曲线中斜率大于1的曲线段 校正待检测图像， 获得过亮度校正图像， 通过上边伽 马校正曲线中斜率大于1的曲线段校正 待检测图像获得 过暗度校正图像。权　利　要　求　书 1/1 页 2 CN 115511792 A 2一种针对高纵横比工件缺陷的增强型检测方 法 技术领域 [0001]本发明涉及一种图像检测方法， 具体地说， 是一种针对高纵横比工件缺陷的增强 型检测方法。 背景技术 [0002]当线路板的板厚大于6mm， 纵横比大于等于15∶1时， 在外层使用负片蚀刻(酸性药 水)容易因为板太厚而造成堵板， 线路蚀刻过度报废； 而如果使用正片蚀刻， 容易因为镀锡 时≤0.4mm的孔孔中间部 分锡薄而造成蚀刻孔无铜报废 。 现有技术中， 通常采用延 长镀锡时 间或加大镀锡电流密度来解决纵横比高的多层板。 但是， 采用延长镀锡时间的方法， 容易产 生外层线路夹膜， 导致线路间短路报废； 而且延长时间和加大电流仍然不能将小孔的孔内 锡厚电镀 到7.6 μm以上。 [0003]基于上述技术难题， 针对这种高纵横比的PCB板表面的缺陷检测需要增强型检测 方法。 发明内容 [0004]发明目的： 本发明目的在于针对现有技术的不足， 提供一种针对高纵横比工件缺 陷的增强型检测方法。 [0005]技术方案： 本发明所述一种针对高纵横比工件缺陷的增强型检测方法， 包括以下 步骤： [0006]S1、 将高纵横比工件横向排列并通过线扫相机获取待检测图像， 设置待检测图像 中的纵横比为1： 1， 并在待检测图像下上对每一个参与排列组合的高纵横比工件进行排列 组合； [0007]S2、 对S1中获得的待检测图像进行十次锐化处 理， 获得十张锐化图像； [0008]S3、 对十张锐化图像分别做保亮度的高细节增强图像， 并分别对十张高细节增强 的锐化图像提取 特征缺陷， 在十张高细节增强的锐化图像上获取图像缺陷特 征区域； [0009]S4、 对十张高细节增强的锐化图像上的图像缺陷特征区域进行对比， 去除离散度 较大的锐化图像， 取六张图像缺陷特征区域近似的锐化图像竞合获得准确的缺陷特征， 从 而检测出高纵横比工件的缺陷特 征。 [0010]作为优选 的， S1中， 对每一个参与排列组合的高纵横比工件进行排列组合的同时 对每一个参与排列组合的高纵横比工件进行 标号。 [0011]作为优选的， S1中， 通过线扫相机 获取待检测图像后对待检测图像建立坐标系， 并 根据参与排列 组合的高纵横比工件的标号在坐标系中建立各高纵横比工件间在待检测图 像上的分割线。 [0012]作为优选 的， S4中， 根据标号和分割线将检测出的缺陷特征分散至每个高纵横比 工件上， 从而获得每 个高纵横比工件上的准确缺陷特 征。 [0013]作为优选的， S2中， 首先对S1中获得的待检测图像进行双边伽马校正， 获取两幅校说　明　书 1/4 页 3 CN 115511792 A 3