ICS77.120.99 CCSL90 T/CI101-2023 激光照明用稀土荧光陶瓷可靠性 性能的试验方法 Testmethodsofreliabilitypropertiesofrareearthceramic phosphorsforlaser-basedlighting 2023-7-17发布 2023-7-17实施 中国国际科技促进会发布CI 团体标准 全国团体标准信息平台 T/CI101-2023 前言 本文件按照GB/T1.1-2020《标准化工作导则第1部分：标准化文件的结构和起草规则》 起草。 某些内容可能涉及专利，本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任。 本文件由上海应用技术大学提出。 本文件由中国国际科技促进会归口。 本文件主起草单位：上海应用技术大学、江苏师范大学、中国科学院上海光学精密机 械研究所、上海理工大学、南京光宝光电科技有限公司、烟台华创智能装备有限公司、天 长市富安电子有限公司、广东中科半导体微纳制造技术研究院、浙江绿龙新材料有限公司、 浙江安贝新材料股份有限公司、惠创科技（台州）有限公司、广东皇智照明科技有限公司、 上海亮威照明科技股份有限公司、浙江亿米光电科技有限公司、江苏厚睦莱照明科技有限 公司、西双版纳承启科技有限公司、苏州璋驰光电科技有限公司、江苏锡沂高新材料产业 技术研究院有限公司、徐州鹰格电子技术有限公司、浙江友邦集成吊顶股份有限公司、宁 波朗格照明电器有限公司、上海英植科技有限公司、上海侬业美科技发展有限公司、协鑫 高科纳米新材料（徐州）有限公司。 本文件主要起草人：李杨、李月锋、邹军、杨波波、张乐、康健、范金太、林辉、董 永军、苏晓锋、赵巍、林森茂、李文博、陈俊锋、王剑勤、徐欢、钱麒、徐华、汤雄、杨 磊、杨忠、陈启、冯英俊、陈浩、吴晓东、林圣全、杨雪舟、沈焱、徐红留、魏强。 本文件是首次发布。 全国团体标准信息平台 T/CI101-2023 1激光照明用稀土荧光陶瓷可靠性性能的试验方法 1.范围 本文件规定了激光照明用稀土荧光陶瓷可靠性性能的一般试验方法。 本文件适用于激光照明用稀土荧光陶瓷的可靠性性能试验，为了进行产品可靠性的验 证，可根据产品的特性和使用环境，选择本标准中适宜的可靠性试验项目。 2.规范性引用文件 下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅所注日期的版 本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本文件。 IEC60825激光安全标准 GB/T10320激光设备和设施的电气安全 GB/T1185光学零件表面疵病 GB/T15313激光术语 GB/T15676稀土术语 GB/T2423.10环境试验第2部分：试验方法试验Fc:振动(正弦) GB/T2423.22环境试验第2部分：试验方法试验N：温度变化 GB/T2424.5环境试验第3部分：支持文件及导则温度试验箱性能确认 GB/T31358半导体激光器总规范 GB/T33721LED灯具可靠性试验方法 GB/T40563氟化物红色荧光粉 GB/T5838.1荧光粉第1部分：术语 GB/T5838.3荧光粉第3部分：性能试验方法 GB/T6569精细陶瓷弯曲强度试验方法 GB7247.1激光产品的安全第1部分：设备分类、要求 3.术语和定义 除以下术语外，GB/T5838.1、GB/T15313、GB/T33721和GB/T15676的术语和定 义适用于本文件。 3.1 激光照明光源 基于激光二极管（LD）技术的照明用光源。 3.2 全国团体标准信息平台 T/CI101-2023 2激光荧光陶瓷 在激光二极管（LD）发出的光激发下能发光的无机陶瓷材料。 3.3 荧光陶瓷可靠性 荧光陶瓷在规定的条件和规定的时间内，完成规定功能的能力。 4.要求 4.1测试安全要求 a)测量时应按GB7247.1的要求采取激光安全防护措施； b)激光器配套的电系统应符合GB/T10320的规定。 4.2被测荧光陶瓷样品要求 除特殊要求外，样品应满足以下要求： a)端面表面疵病质量根据GB/T1185，应符合：麻点B/0.8D0×0.05，划痕C/2D0× 0.01（D0为样品直径，单位为mm)； b)端面应清洁，无影响测量的灰尘和挡光污渍。 4.3环境要求 测量时环境应满足下面要求： a)无明显的振动、气流、烟尘、杂散光及电磁干扰； b)环境照度：在较暗环境下，避免强光干扰； c)防静电。 5温度循环试验 5.1总则 温度循环试验按照GB/T2423.22的试验Nb：“规定变化速率的温度变化”和下述规 定进行。 5.2试验要求 试验在满足GB/T2424.5和GB/T33721要求的试验箱内进行。试验温度见表1，温 度容差为±2K。 表1温度循环试验的试验温度 声称值 最大试验温度（℃） 最小试验温度（℃） 仅有t1 t1最大值 t1最大值-50 仅有最高和最低工作温度 最高工作温度 最低工作温度 全国团体标准信息平台 T/CI101-2023 3既有t1，又有最高和最低工作温度 最高工作温度 最低工作温度 无温度声称值 40 -10 温度循环试验的循环次数为250次。 5.3试验程序 单次循环的试验程序如下： a)将荧光陶瓷样品，常温下，放置在试验箱内； b)试验箱内的环境温度以（10±2）K/min的速率升高到最大试验温度，保持50min; c)试验箱内的环境温度以（10±2）K/min的速率降低到最小试验温度，保持50min。 5.4合格判定 荧光陶瓷试样，无裂纹、缺口和内外表皮崩落等缺陷。采用亮度测定仪(450±10nmLD 激发源)，测得的温度循环试验后的荧光陶瓷样品亮度，相对于荧光陶瓷样品初始亮度，变 化不超过10%。 6.温度冲击试验 对于在冷、热快速切换的场合使用的荧光陶瓷，按照GB/T2423.22的试验Na:“规 定转换时间的快速温度变化”和下述规定进行温度冲击试验。 温度冲击试验参数如表2所示。 表2温度冲击试验参数 参数 低温（℃） 高温（℃） 暴露时间（h） 循环次数（次） 数值 -40 70 2 20 暴露时间的确定方法按照GB/T33721规定执行。试验后，荧光陶瓷试样，无裂纹、缺 口和内外表皮崩落等缺陷。采用亮度测定仪(450±10nmLD激发源)，测得的温度冲击试验 后的荧光陶瓷样品亮度，相对于荧光陶瓷样品初始亮度，变化不超过10%。 7.高温高湿试验 试验采用恒温恒湿试验烘箱：精度±0.5℃，±1%相对湿度。 试验时，将恒温恒湿试验烘箱的温度和相对湿度设置如表3所示，待温度和相对湿度 达到设定值时，放入荧光陶瓷样品，储存1000h，随即取出，在干燥器中自然冷却至室温。 表3高温高湿试验条件 试验 环境温度(℃) 相对湿度(%) 持续时间(h) 高温高湿 85±0.5 85±1 1000h 全国团体标准信息平台 T/CI101-2023 460±0.5 90±1 1000h 试验后，荧光陶瓷试样，无裂纹、缺口和内外表皮崩落等缺陷。采用亮度测定仪(450 ±10nmLD激发源)，测得的高温高湿试验后的荧光陶瓷样品亮度，相对于荧光陶瓷样品初 始亮度，变化不超过10%。 8.极端温度贮存试验 高温贮存试验和低温贮存试验按照GB/T33721的规定执行。 试验后，荧光陶瓷试样，无裂纹、缺口和内外表皮崩落等缺陷。采用亮度测定仪(450 ±10nmLD激发源)，测得的极端温度贮存后的荧光陶瓷样品亮度，相对于荧光陶瓷样品初 始亮度，变化不超过10%。 9.振动试验 振动试验参考GB/T2423.10和GB/T33721，试验样品不包装，固定在试验台中央， 振动方向为互相垂直的3个方向，振动试验参数为： a)频率范围：10Hz～55Hz～10Hz; b)振幅：0.35mm; c)扫描速率：约1oct/min; d)持续时间：30min。 试验后，荧光陶瓷试样，无裂纹、缺口和内外表皮崩落等缺陷。采用亮度测定仪(450 ±10nmLD激发源)，测得的振动试验后的荧光陶瓷样品亮度，相对于荧光陶瓷样品初始亮 度，变化不超过10%。 10.抗弯强度试验 抗弯强度的测量按GB/T6569中的规定执行，抗弯强度试验条件为：177.6～263.0 Mpa。 试验后，荧光陶瓷试样，无裂纹、缺口和内外表皮崩落等缺陷。采用亮度测定仪(450 ±10nmLD激发源)，测得的抗弯强度试验后的荧光陶瓷样品亮度，相对于荧光陶瓷样品初 始亮度，变化不超过10%。 11.试验样品数量要求 最低试验样品数量要求见表4。 全国团体标准信息平台 T/CI101-2023 5表4样品数量要求 试验条款 试验项目 最低样品数/个 5 温度循环试验 5 6 温度冲击试验 3 7 高温高湿试验 3 8 极端温度贮存试验 3 9 振动试验 5 10 抗弯强度试验 5 ________________________________ 全国团体标准信息平台