ICS 31.260 L 51 GB 中华人民共和国国家标准 GB/T31359—2015 半导体激光器测试方法 Test methods of semiconductor lasers 2015-02-04发布 2015-08-01实施 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 发布 中国国家标准化管理委员会 GB/T 31359—2015 目 次 前言 范围 1 2规范性引用文件 3术语、定义和符号 3.1术语和定义 3.2符号和单位 4测试条件及要求 4.1环境要求 4.2 测试仪器及计量要求 4.3 激光安全要求 4.4 被测产品正常工作要求 4.5 其他要求 测试方法 5 5.1 输出光功率测试 5.2 平均功率测试… 5.3 峰值功率测试 5.4 脉冲能量测试 5.5 输出功率不稳定度测试 5.6 输出能量不稳定度测试 5.7 工作电流 5.8 工作电压 5.9 闵值电流· 斜率效率 5.10 12 5.11 电光转换效率 13 5.12 波长-温度漂移系数 14 5.13 峰值波长 15 5.14 谱宽度 16 5.15 中心波长 16 5.16 偏振度 17 5.17 重复频率 18 5.18 脉冲宽度 19 5.19 光强分布 19 5.20 光束宽度 23 5.21 快轴发散角和慢轴发散角 23 5.22 边模抑制比 25 5.23 截止频率 26 附录A（资料性附录） 光强分布举例 1 GB/T31359—2015 前言 本标准按照GB/T1.1一2009给出的规则起草。 本标准由中国机械工业联合会提出。 本标准由全国光辐射安全和激光设备标准化技术委员会（SAC/TC284)归口。 本标准起草单位：西安炬光科技有限公司、中国科学院西安光学精密机械研究所、中国科学院半导 体研究所、北京国科世纪激光技术有限公司、武汉华工正源光子技术有限公司、中国电子科技集团公司 第十三研究所。 本标准主要起草人：刘兴胜、赵卫、许国栋、张艳春、杨军红、马晓宇、唐琦、吴迪、王贞福、王警卫、 谢彦虎、王家赞、李小宁、史俊红、陈海蓉、仲莉、石朝辉、张恩、许海明、张国新。 GB/T 31359—2015 半导体激光器测试方法 1范围 本标准规定了半导体激光器主要光电参数的测试方法。 本标准适用于半导体激光器主要光电参数的测试。半导体激光器组件可参考执行。 规范性引用文件 2 下列文件对于本文件的应用是必不可少的，凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文 件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件 GB7247.1激光产品的安全第1部分：设备分类、要求 GB/T10320 激光设备和设施的电气安全 GB/T15313 激光术语 GB/T31358—2015半导体激光器总规范 3 术语、定义和符号 3.1 术语和定义 GB/T15313、GB/T31358一2015界定的术语和定义适用于本文件。 3.2 符号和单位 表1所列的符号和单位适用于本文件。 表1符号和单位 术语 符号 单位 Pop 输出光功率 mw,w 平均功率 Pavg mW.W 脉冲能量 E J,mJ 峰值功率 Pp mW,W 输出功率不稳定度 Spr 输出能量不稳定度 Set 峰值波长 ap nm 谱宽度 AFWHM nm 中心波长 nm 工作电流 I op: mA,A 工作电压 Vop mV.V 1 GB/T313592015 表1(续) 术语 符号 单位 阈值电流 Ith mA.A 斜率效率 SE W/A 电光转换效率 波长-温度漂移系数 k nm/K,nm/℃ Pa 偏振度 脉冲宽度 su*sd+su 重复频率 f Hz 快轴发散角 0 (°) 慢轴发散角 () 光束宽度 Ad mm 边模抑制比 SMSR 截止频率 fe Hz 4 测试条件及要求 4.1 环境要求 除非另有规定，测试环境条件应符合以下要求： 气压：86kPa~106kPa； a) b) 环境温度：20℃~25℃； c) 相对湿度：30%~70%； (p 环境洁净度：按照产品详细规范规定； e) 无光噪声和明显气流； 52C f) 521 屏蔽电磁辐射（适用时，按照产品详细规范规定）； g) 防止机械振动； h) 防静电（适用时）。 4.2 测试仪器及计量要求 除非另有规定，测试仪器应满足以下要求： 测试仪器量程满足被测半导体激光器参数范围； a) b) 精度范围至少优于被测指标误差4倍以上，一般情况下数字仪表示值至少3位有效数字； c) 符合计量检定要求，且在计量有效期内。 4.3 激光安全要求 半导体激光器的安全要求应符合以下规定： 半导体激光器的辐射安全和防护应符合GB7247.1的规定； a) b) 半导体激光器配套的电系统应符合GB/T10320的规定。 2