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ICS 31.120 L 47 GB 中华人民共和国国家标准 GB/T 22181.5—2015 代替GB/T11482—1989 等离子体显示器件 第5部分:总规范 Plasma display panels- Part 5:Generic specification 2015-06-02发布 2016-02-01实施 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 发布 中国国家标准化管理委员会 GB/T22181.5—2015 目 次 前言 II 范围 2 规范性引用文件 术语、定义、单位、符号和缩略语 3 3.1术语和定义 3.2单位、符号和缩略语…· 总则 4 4.1 优先顺序 4.2 标准大气条件 4.3 标志 4.4 质量评定类别 4.5 筛选 4.6 操作 质量评定程序 5 5.1 总则 5.2 鉴定批准和/或能力批准的资格 5.3 初始制造阶段 5.4 商业保密信息 5.5 检验批的构成 5.6 结构相似器件 5.7 零部件 5.8 交货放行的有效性 5.9 鉴定批准试验 5.10 鉴定批准的授予 5.11 质量一致性检验 5.12 统计抽样程序 5.13 耐久性试验· 5.14 规定失效率的耐久性试验 5.15 加速试验程序 5.16 能力批准程序 10 6试验和测量程序 10 6.1 标准条件和一般预防措施· 10 6.2 物理检查 电学、光学和显示性能测量 11 6.4 气候和机械试验 11 6.5 替代试验方法 GB/T 22181.5—2015 6.6耐久性试验 11 附录A(规范性附录) 批允许不合格品率(LTPD)抽样方案 12 附录B(资料性附录) 规范的基本描述· 18 表A.1LTPD抽样方案 13 表 A.2 等于或小于200的小批量超几何抽样方案 15 表 A.3 AQL和LTPD抽样方案 17 GB/T22181.5—2015 前言 GB/T22181《等离子体显示器件》的预计结构如下: 第1部分:术语与文字符号(GB/T22181.1—2008); 第2-1部分:光学参数测量方法(GB/T22181.21—2008); 第2-2部分:光电参数测量方法(GB/T22181.22—2008); —第2-3部分:模块显示质量测量方法(GB/T22181.23—2012); 一第2-4部分:数字电视机用器件特性测量方法; 一第3-1部分:机械接口; 一第3-2部分:电子接口; 第4部分:气候和机械试验方法; —第5部分:总规范(GB/T22181.5—2015); 一第6部分:数字电视机用等离子体显示器件空白详细规范 本部分是GB/T22181的第5部分。 本部分按照GB/T1.1—2009给出的规则起草。 本部分代替GB/T11482一1989《交流等离子体显示器件总规范(可供认证用)》。本部分与 GB/T11482一1989相比,除编辑性修改外,主要技术性变化如下: 增加了术语:平均显示亮度、平均图像电平、色域覆盖率、高灰度色域覆盖率、低灰度色域覆盖 率、平均功耗、视角、亮度视角、对比度视角、色度视角、动态图像分辨率、图像条纹、闪烁和噪 声,及其定义(见3.1); 增加了质量评定类别、筛选和操作等内容(见4.4、4.5和4.6); 一在质量评定程序中,修改了检验分组的划分,增加了简化检验的补充程序和LTPD抽样方案 (见5.11.2、5.11.4和5.12.2); 试验项目和试验方法采用GB/T22181.21—2008、GB/T22181.22—2008、GB/T22181.23- 一 2012和SJ/T11379一2008标准中规定的项自目和方法; 增加了附录A[批允许不合格品率(LTPD)抽样方案]和附录B(规范的基本描述)。 请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任。 本部分由中华人民共和国工业和信息化部提出。 本部分由中国电子技术标准化研究院归口。 本部分起草单位:四川虹欧显示器件有限公司、西安交通大学、四川长虹电器股份有限公司。 本部分主要起草人:邓新群、胡文波、王平松、赵晓东、王丽雯、黄长戈、唐礼。 本部分所代替标准的历次版本发布情况为: GB/T11482—1989。 GB/T 22181.5—2015 等离子体显示器件 第5部分:总规范 1范围 GB/T22181的本部分是等离子体显示器件的总规范。它规定了IECQ-CECC体系质量评定的通 用程序,并规定了电学、光学、图像显示、机械及环境性能描述和测试的通用要求。 本部分适用于等离子体显示器件。 2规范性引用文件 下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文 件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。 GB/T2828.1一2012计数抽样检验程序第1部分:按接收质量限(AQL)检索的逐批检验抽样 计划 GB/T4728(所有部分)电气简图用图形符号 GB/T22181.12008等离子体显示器件第1部分:术语与文字符号(IEC61988-1:2003IDT) GB/T22181.212008等离子体显示器件第2-1部分:光学参数测量方法(IEC61988-2-1: 2002,IDT) 2003,IDT) SJ/T11378—2008等离子体显示器件第3-1部分:机械接口 SJ/T11379—2008等离子体显示器件第4部分:气候和机械试验方法 IEC60027(所有部分)电工技术用文字符号(Lettersymbolstobeusedinelectricaltechnology) IEC60050(所有部分)国际电工术语(Internationalelectrotechnicalvocabulary) IEC60410:1973计数检查抽样方案和程序(Samplingplansandproceduresforinspectionbyat- tributes) IEC60747-1半导体器件第1部分:总则(Semiconductordevices一Part1:General) IECQ01电子元器件IEC质量评定体系(IECQ)基本规则(IECQualityAssessmentSystem forElectroniccomponents (IECQ)BasicRules) IECQC001002:2005(所有部分)电子元器件IEC质量评定体系(IECQ)程序规则 (IEC Quality Assessment System for Electronic components (IECQ)-Rules of Procedure) dations for the use of their multiples and of certain other units) 准(Sampling procedures for inspection by attributes-Part 10:Introduction to the ISO 2859 series of standardsforsamplingforinspectionbyattributes) ISO3534-2统计学词汇和符号第2部分:应用统计学(Statistics一Vocabularyandsymbols Part 2: Applied statistics) 1

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