ICS 31.260 L 53 中华人民共和国国家标准 GB/T36359—2018 半导体光电子器件 小功率发光二极管空白详细规范 Semiconductor optoelectronic devices- Blank detail specification for lower power light-emitting diodes 2019-01-01实施 2018-06-07发布 国家市场监督管理总局 发布 中国国家标准化管理委员会 GB/T36359—2018 前言 本标准按照GB/T1.1一2009给出的规则起草 请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任 本标准由中华人民共和国工业和信息化部（电子）归口。 电子技术标准化研究院 本标准主要起草人：张瑞霞、赵敏、黄杰、彭浩、赵英、刘秀娟、张晨朝、刘东月 1 GB/T36359—2018 半导体光电子器件 小功率发光二极管空白详细规范 引言 本空白详细规范是半导体光电子器件的一系列空白详细规范之一。 相关文件： GB/T 2423.1—2008 电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验A：低温 GB/T 2423.3—2016 环境试验第2部分：试验方法试验Cab：恒定湿热试验 GB/T2423.42008 12h循环） GB/T 2423.5 51995 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法试验Ea和导则：冲击 GB/T2423.10—2008 电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Fc：振动（正弦） GB/T 2423.15—2008 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法试验Ga和导则：稳态加 速度 GB/T 2423.22 -2012 环境试验第2部分：试验方法试验N：温度变化 GB/T2423.23—2013 环境试验第2部分：试验方法试验Q：密封 GB/T2423.28—2005 电工电子产品环境试验第2部分：试验方法 试验T：锡焊 GB/T2423.60—2008 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验U：引出端及整体安 装件强度 GB/T2424.19—2005 GB/T4589.1一2006半导体器件第10部分：分立器件和集成电路总规范 GB/T12565—1990半导体器件光电子器件分规范 SJ/T11394—2009半导体发光二极管测试方法 IEC60191-2-DB-2012半导体器件的机械标准化第2部分：尺寸规格（Mechanicalstandardization of semiconductor devicesPart 2:Dimensions) IEC60749-21:2011半导体器件机械和气候试验方法第21部分：可焊性（Semiconductorde vicesMechanical and climatic tests methodsPart 2l:Solderability) 要求资料 下列所要求的各项内容，应列入规定的相应空栏中。 详细规范的识别： [1]授权发布详细规范的国家标准化机构名称。 [2]IECQ详细规范号。 [3]总规范和分规范的版本号和标准号 ［4]详细规范的国家编号、发布日期及国家标准体系要求的任何更详细的资料。 器件的识别： [5]］主要功能和型号。 被指出，例如在对照表中列出特性差异。 1 GB/T36359—2018 如果一种器件对静电敏感，应在详细规范中增加警告、小心方面的文字。 [7] 外形图、引出端识别、标志和（或)参考的相关外形标准。 [8] 根据GB/T4589.1一2006中2.6的质量评定类别。 [9]参考数据。 [注：在整个空白详细规范中，方括号内给出的内容仅供指导制定详细规范时用，而不包括在详细规范中。］ ［授权发布详细规范的国家标准化 ［1]|［IECQ详细规范号、发布号和 [2] 机构的名称］ (或)发布日期」 评定电子元器件质量的依据： [3] ［详细规范的国家编号] [4] GB/T4589.1—2006半导体器件 第10 ［如果国家编号与IECQ编号相同，则本栏可不填 写 部分：分立器件和集成电路总规范 GB/T12565—1990半导体器件 光电子 器件分规范 [5] [相关器件的型号］ 订货资料：见本规范第7章 机械说明 [7] 简略说明 [6] 2 外形标准： 小功率发光二极管 IEC60191-2-DB-2012［如果可行应强制］ 类型：直插式/表面贴装式. 国家标准[如果没有IEC外形标准] 发光材料.GaAAs/InGaAIP/GaN...... 封装材料·树脂/金属/玻璃/陶瓷· 外形图： 芯片：单芯片/多芯片 [可以放到第10章并给出更多的详细资料] 产品电气原理图： 引出端识别： 【可以放到第10章］ 【画图说明管脚的功能，包括图形、符号］ [可以增加某些重要的相关数据 标志：[文字、符号或图形］ [若有的话，详细规范应规定器件上标志的内 电子信息产品制造厂在生产或制造电子信息产 容］ 品时，应当符合电子信息产品有毒、有害物质或元 ［见GB/T4589.1—2006的2.5和（或）本规范 素控制国家标准或行业标准，采用资源利用率高、 第6章］ 易回收处理、有利于环保的材料、技术和工艺 [8] 3 质量评定类别 ［按GB/T4589.1—2006的2.6，I类或Ⅱ类或 参考数据： [6] 按本规范鉴定合格的器件的有关制造厂的资料，可在现行合格产品一览表中查到 2 GB/T 36359—2018 极限值（绝对最大额定值） 4 除非另有规定外，极限值要求见表1，这些数值适用于整个工作温度范围 仅重复使用带标题的条号。任何增加的数值应在适当地方给出，但没有条号。 ［曲线应在本规范第10章中给出。］ 表1极限值 要求 章条号 极限值 符号 单位 最 小最 大 4.1 贮存温度 X X ℃ Tamb 4.2 工作环境温度 X X ℃ 4.3 焊接温度 Tasld ℃ （规定最长焊接时间 X 和/或距管壳的最小距离） X mm 4.4 反向电压 VR X V 4.5 环境温度为25℃下的直流正向电流 Ir X mA 4.6 环境温度为25℃下的峰值正向电流，规定的脉冲条件下（适用时） IFM A 4.7 静电敏感电压（适用时） VesD X V 注：X表示详细规范中应规定的具体值 光电及色度特性 5 光电及色度特性要求见表2，检验要求见本规范第8章。 [仅重复使用带标题的章条号。任何增加的特性应在适当的地方给出，但没有章条号。 当在同一详细规范中规定系列型号器件时，相关数值应以连续方式给出，避免相同数值的重复。 ［特性曲线宜在本规范第10章中给出。] 表 2 光电及色度特性 件 条 要 试验 章条号 符号 除非另有规定 性 单位 分组 最小 最大 Tamb=25℃ 5.1 正向电压 Ve Is按规定 X V A2b,C2a 5.2 反向电流 IR V按规定 X μA A2b,C2a 5.3 平均发光强度 I LEDV或 I按规定，其他条件按 p3 A3 I LEDN: 规定 W/sr A3 5.4 半强度角 01/2 I按规定 X X A3,C2a 5.5 光通量 I按规定 X Im A3 或辐射功率 d. IF按规定 X mW A3 5.6 峰值发射波长 Ap I按规定 X X nm A3 5.7 主波长(适用于单色光） IF按规定 X X nm A4 3 GB/T36359—2018 表2(续) 件 试验 章条号 符号 除非另有规定 单位 分组 最小 最大 Tamb =25℃ C2a 5.8 光谱辐射带宽（适用于单色光） I按规定 X nm 5.9 显色指数（适用于白光） Ra I按规定 X A4 5.10 相关色温（适用于白光） CCT I按规定 X X K A4 5.11 色品坐标 t.y I按规定 X A4 X 5.12 色容差（适用于照明用） SDCM I按规定 A4 5.13 发光效能（适用于白光） I按规定 X Im/W A2b 或辐射效率 I按规定 X A2b ne 注：X表示详细规范中应规定的具体值。 6标志 ［任何详细资料（除第1章[7]栏中和（或)GB/T4589.1一2006的2.5给出的之外)应在此给出。 7 订货资料 除非另有规定，订购一种具体器件至少需要以下内容： 准确的型号（如果要求，标称的电压值）； 有版本号或日期的IECQ详细规范号； 按分规范的3.7规定的质量评定类别及如果要求时按分规范的3.6中规定的筛选顺序； 任何其他细节。 8试验条件和检验要求 表3中给出筛选（仅适用于Ⅲ类）的试验条件和检验要求，表4、表5和表6分别给出了A组B组 和C组检验的试验条件和检验要求[其所有数值和确切的试验条件应按照给定型号的要求和相关标准 中规定的有关试验予以规定。 [当在同一详细规范中包含若干规格的器件时，有关的试验条件和/或数值应以连续的方式给出，避 免相同的条件和/或数值重复出现。 ［当制定详细规范时，如果检验或检验方法有两种以上的选择应确定一种。 除非另有规定，下列文本中引用的条号对应于GB/T4589.1一2006的条号。 [关于抽样要求，应依据适用的质量评定类别引用或参照分规范3.7的规定。对于A组检验，制定详细 规范时应选定AQL或LTPD抽样方案。 表3筛选（仅适用于Ⅲ类） 项 目 条件 温度循环 Ttg，mx、Tstgmin，5个循环 老炼 Irmux≥24h 4 GB/T 36359—2018 表4A组（逐批） 条件 检验或试验 引用标准 除另有规定外， 要求/极限值 检验或试验 符号 S