ICS17.040.30 J 42 中华人民共和国国家标准 GB/T22092—2018 代替GB/T22092—2008 电子数显测微头和深度干分尺 Micrometer head and depth micrometer with electronic digital display 2018-12-01实施 2018-05-14发布 国家市场监督管理总局 发布 中国国家标准化管理委员会 GB/T22092—2018 前言 本标准按照GB/T1.1一2009给出的规则起草。 本标准代替GB/T22092—2008《电子数显测微头和深度千分尺》。本标准与GB/T22092—2008 相比，除编辑性修改外，主要技术变化如下： 扩大电子数显测微头和深度千分尺的量程到50mm（见第1章、4.2.2，2008年版的第1章、 4.2.2); 修改了电子数显千分尺数显装置的定义（见3.1，2008年版的3.1）； 一增加了电子数显测微头和电子数显深度千分尺的定义（见3.2、3.3）； 增加了测微螺杆螺距为2mm的电子数显测微头和深度千分尺（见4.2.1）； 修改了对锁紧变化的要求（见5.5，2008年版的第1章）； 增加了对电子数显深度千分尺测量面平行度的要求和检验（见5.8.5、6.1.4）； 一增加了量程等于50mm的电子数显测微头及其示值最大允许误差的要求（见5.11.1)； 修改了示值最大允许误差的规定值（见5.11和表1，2008年版的5.11和表1）； 删除了附录A，把附录A的内容放到正文里（见5.11、表2，2008年版的附录A）； 一增加了对电子数显深度千分尺校对柱的要求（见5.13）； 修改了分度误差检验方法的注2（见6.3.1,2008年版的6.3.1)； 修改了示值误差的检验方法（见6.4.2，2008年版的6.4.2）； -增加了示值误差检验方法的B组尺寸系列检验量块（见6.4.2和表2，2008年版的6.4.2）； 一增加了量程等于50mm的电子数显测微头的示值误差检验量块（见6.4.2和表2）； 删除了对角度传感器等分数的规定（见2008年版的5.10.3）。 本标准由中国机械工业联合会提出。 本标准由全国量具量仪标准化技术委员会（SAC/TC132）归口。 本标准负责起草单位：苏州麦克龙测量技术有限公司。 本标准参加起草单位：成都工具研究所有限公司、桂林量具刃具有限责任公司、成都成量工具集团 有限公司、哈尔滨量具刃具集团有限责任公司、桂林广陆数字测控有限公司、东莞市特马电子有限公司、 广西壮族自治区计量检测研究院、辽宁省计量科学研究院。 本标准主要起草人：黄晓宾、王荣华、许刚、赵伟荣、李荣农、周萍、闫列雪、王昭进、王智慧、姚兴宇。 本标准所代替标准的历次版本发布情况为： GB/T22092—2008。 GB/T 22092—2018 电子数显测微头和深度干分尺 1范围 本标准规定了电子数显测微头和电子数显深度千分尺的术语和定义、型式与基本参数、要求、检 验方法、试验方法、标志与包装。 本标准适用于分辨力为0.001mm，量程小于或等于50mm的电子数显测微头和测量范围上限至 300mm的电子数显深度千分尺。 2规范性引用文件 下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文 件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。 GB/T1216—2018外径千分尺 GB/T2423.3一2016环境试验第2部分：试验方法试验Cab：恒定湿热试验 GB/T2423.22—2012环境试验第2部分：试验方法试验N：温度变化 GB/T4208一2017外壳防护等级（IP代码） GB/T1800.2一2009产品几何技术规范（GPS）极限与配合第2部分：标准公差等级和孔、轴 极限偏差表 GB/T17163—2008 几何量测量器具术语基本术语 GB/T17164—2008 几何量测量器具术语产品术语 GB/T17626.2—2006电磁兼容试验和测量技术静电放电抗扰度试验 GB/T17626.3—2016 电磁兼容试验和测量技术射频电磁场辐射抗扰度试验 GB/T24634—2009产品几何技术规范（GPS）GPS测量设备通用概念和要求 3术语和定义 GB/T17163—2008,GB/T17164—2008和GB/T24634—2009界定的以及下列术语和定义适用 于本文件。 3.1 电子数显千分尺数显装置electronicdigitalindicatingdevicesformicrometer 利用角度传感器、电子和数字显示技术，计算并显示电子数显干分尺的测微螺杆位移的装置 注：以下简称“电子数显装置”。 3.2 电子数显测微头micrometerheadwithelectronicdigitaldisplay 利用电子数显千分尺数显装置，对测微螺杆轴向位移进行读数并具有安装部位的测量器具， 3.3 电子数显深度千分尺depthmicrometerwithelectronicdigitaldisplay 利用电子数显装置，对底板测量面与测微螺杆测量面分隔的距离进行读数的测量器具。 注：改写GB/T17164—2008，定义2.3.13。 1 GB/T 22092—2018 4型式与基本参数 4.1型式 电子数显测微头和电子数显深度千分尺的型式如图1和图2所示。图示仅供图解说明，不表示详 细结构。 测面 测微螺杆 安装部位 锁紧装胃 电子数显装胃 微分筒 测力装胃 1000 图1 电子数显测微头型式示意图 测显血 洲呈杠 底板 锁紧装置 也子数显装置 微分筒 测力装置 000h2 图2电子数显深度千分尺型式示意图 4.2基本参数 4.2.1电子数显测微头和电子数显深度千分尺测微螺杆的螺距宜为0.5mm、1mm或2mm。 4.2.2电子数显测微头和电子数显深度千分尺的量程宜为25mm.30mm或50mm。 4.2.3电子数显测微头安装部位的直径宜为12h6。 4.2.4电子数显深度千分尺的测量范围的下限宜为0mm或25mm的整数倍。 2 GB/T 22092—2018 5要求 5.1外观 5.1.1电子数显测微头和电子数显深度千分尺表面不得有影响外观和使用性能的裂痕、划伤、碰伤、锈 蚀、毛刺等缺陷。 缺陷。 5.1.3电子数显装置的数字显示屏应透明、清洁，无划痕、气泡等影响读数的缺陷。 5.2材料 5.2.1电子数显深度千分尺底板应选择合金工具钢、不锈钢或其他类似性能的材料制造。 5.2.2测微螺杆和测量杆应选择合金工具钢、不锈钢或其他类似性能的材料制造；测量面宜镶硬质合 金或其他耐磨材料。 5.3相互作用 5.3.1测微螺杆和螺母之问在全量程范围内应充分啮合，配合良好，不应出现卡滞和明显的轴向窜动。 5.3.2测微螺杆伸出的光滑圆柱部分与轴套之间的配合应良好，不应出现明显的径向摆动。 5.4测力装置 电子数显测微头和电子数显深度千分尺宜具有测力装置。通过测力装置作用到测量面的测量力应 在4N10N之间.测量力变化应不大于2N。 5.5锁紧装置 电子数显测微头和电子数显深度千分尺宜有锁紧装置。锁紧装置应能有效地锁紧测微螺杆，锁紧 前、后，两测量面间的距离变化不应大于2um（在锁紧部位测微螺杆有刚性支撑）或3pm（在锁紧部位 测微螺杆无刚性支撑）。 5.6底板 电子数显深度千分尺底板的长度宜为50mm或100mm。 5.7测量杆 电子数显深度于分尺相邻测量杆之间的长度差等于量程，应成套检测。更换测量杆后的“零”值误 差不应大于表1的规定。 表1示值最大允许误差、平行度公差和“零”值误差 测量范围 1 示值最大允许误差 平行度公差 “零”值误差 mm μm 7>1≥0 4 5 25<≤50 5 5 ±2 6 6 ±3 50<≤100 3 GB/T22092—2018 表1 (续) 测量范围1 示值最大允许误差 平行度公差 “零”值误差 mm μm 100</≤150 7 ±4 150</≤200 8 8 ±5 200<≤250 9 9 ±6 10 10 250<l≤300 2 5.8测量面 5.8.1合金工具钢测量面的硬度不应小于740HV（或61.8HRC)；不锈钢测量面的硬度不应小于 552HV(或52.5HRC)。 5.8.2测微螺杆和测量杆的测量面应为平面或球面。平测量面的平面度公差不应大于0.3um。 5.8.3电子数显深度千分尺长度为50mm的底板测量面的平面度公差不应大于1.5um，长度为 100mm的底板测量面的平面度公差不应大于2.0am。 5.8.4电子数显测微头的测微螺杆测量面对其轴线的垂直度误差不应大于0.6μm 5.8.5电子数显深度千分尺测量杆的测量面为平面时，测量杆测量面与底板测量面的平行度公差不应 大于表1的规定。 5.9标尺标记 电子数显测微头和电子数显深度千分尺上的标尺标记按GB/T1216一2018中5.9的规定。 5.10电子数显装置 5.10.1 功能键：电子数显装置的功能键应灵活、可靠，标注的符号或图文应清晰且含义准确。 5.10.2类 数字显示屏：电子数显装置的数字显示应清晰、完整、无闪跳现象；字高不应小于4mm。 5.10.3 分度误差：电子数显装置的分度误差不应大于0.002mm。 5.10.4 数值漂移：电子数显装置在1h内的数值漂移不应大于其分辨力。 5.10.5通信接口：电子数显装置宜设置通信接口。电子数显装置的通信接口宜为USB、RS-232或无 线接口。制造商应能够提供电子数显装置与其他设备之间的通信电缆、通信协议和通讯软件