ICS17.180.01;37.020 N 33 中华人民共和国国家标准 GB/T 34831—2017 纳米技术 贵金属纳米颗粒电子显微镜成像 高角环形暗场法 NanotechnologiesElectron microscopy imaging of noble metal nanoparticles- High angle annular dark field imaging method 2018-05-01实施 2017-11-01发布 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 发布 中国国家标准化管理委员会 GB/T 34831—2017 目 次 前言 引言 IV 1 范围 规范性引用文件 2 3 术语和定义 高角环形暗场成像原理 仪器和设备 5 试剂 6 样品制备 7 8 实验步骤 9 实验报告 附录A（资料性附录） 贵金属纳米颗粒高角环形暗场成像方法实例 附录B（资料性附录） 贵金属纳米颗粒高角环形暗场成像的实验报告 参考文献 GB/T 34831—2017 前言 本标准按照GB/T1.1—2009给出的规则起草。 本标准由中国科学院提出。 本标准由全国纳米技术标准化技术委员会（SAC/TC279)归口。 本标准主要起草单位：国家纳米科学中心、北京粉体技术协会。 本标准主要起草人：齐笑迎、常怀秋、朱晓阳、贺蒙、高原 Ⅲ GB/T348312017 引言 贵金属纳米颗粒由于具有量子效应、小尺寸效应及表面效应，呈现出许多特有的物理、化学性质，在 催化、能源、光学、电子和生物等领域有着广阔的应用前景。由于贵金属纳米颗粒的尺寸、团聚情况、颗 粒均匀性等与其性能密切相关，因此对其形貌特征的表征显得尤为重要。在实际应用中，贵金属纳米颗 粒通常与其载体形成复合体系，普通的扫描电子显微成像、透射电子衍射衬度成像和高分辨相位衬度成 像等技术无法有效地区分贵金属颗粒和其载体。高角环形暗场成像是一种在扫描透射模式下，利用环 形探测器收集高角度散射电子成像的方法，所得图像的衬度与元素的原子序数的平方近似成正比，因此 可以有效地区分出复合体系中的贵金属颗粒，并且具有原子级的分辨率，非常适合于贵金属纳米颗粒的 成像。该方法对微米级颗粒的成像同样适用。 目前，高角环形暗场成像方法是一种成熟的表征方法，在配备了扫描线圈和高角环形暗场探测器的 透射电子显微镜或扫描电子显微镜上都可以实现。由于其图像衬度与原子序数密切相关，在贵金属纳 米颗粒的表征方面，越来越多的人开始使用这一技术来分析纳米颗粒样品，该方法在贵金属纳米颗粒表 征方面的有效性也逐渐得到认可，在科研和生产工作中发挥了重要作用。 1V