ICS 19.020 N 04 中华人民共和国国家标准 GB/T 33714—2017 纳米技术 纳米颗粒尺寸测量 原子力显微术 Nanotechnology—Test method for size of nanoparticles—Atomic force microscopy 2017-12-01实施 2017-05-12发布 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 发布 中国国家标准化管理委员会 GB/T 33714—2017 目 次 前言 1 范围 2 规范性引用文件 术语和定义 3 4 基本原理和模式 5 仪器 6 测量样品的预处理 测量方法 7 8 测量结果 9 不确定度评定 10测量报告 附录A(资料性附录) 纳米颗粒的沉积方法 附录B(资料性附录) 纳米颗粒高度测量实例 10 附录C(资料性附录) 不确定度评定 13 附录D(资料性附录) 推荐的测量报告格式 15 参考文献 16 GB/T33714—2017 前言 本标准按照GB/T1.1—2009给出的规则起草。 本标准由中国科学院提出。 本标准由全国纳米技术标准化技术委员会(SAC/TC279)归口。 本标准起草单位:国家纳米科学中心、纳米技术及应用国家工程研究中心、北京粉体技术协会 本标准主要起草人:朱晓阳、杨延莲、高洁、何丹农、朱君、周素红、张迎 Ⅲ GB/T337142017 纳米技术纳米颗粒尺寸测量 原子力显微术 警告:本标准并未指出所有可能的安全问题,在应用本标准之前,使用者有责任采取适当的安全和 健康措施,并保证符合国家有关法规规定的条件。 1范围 米颗粒尺寸的方法 本标准适用于分散在平整衬底表面上的纳米颗粒测量。 2规范性引用文件 件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。 GB/T27760利用Si(111)晶面原子台阶对原子力显微镜亚纳米高度测量进行校准的方法 GB/T30544.1—2014纳米科技术语第1部分:核心术语 ISO18115-2表面化学分析术语第2部分扫描探针显微术术语(Surfacechemical analysis—VocabularyPart 2:Terms used in scanning-probe microscopy) 3术语和定义 GB/T27760、GB/T30544.1和ISO18115-2界定的以及下列术语和定义适用于本文件 3.1 团聚体agglomerate 弱束缚颗粒的堆积体、聚集体或二者的混合体,其外表面积与其单个颗粒的表面积的总和相近。 注1:支撑团聚体的作用力都是弱力,如范德华力或简单的物理缠结 注2:团聚体也被称为次级颗粒,而源颗粒则被称为初级颗粒 注3:利用成像技术,如AFM,一般很难区分样品在沉积过程中形成的团聚(即假象)或事先存在的团聚体 3.2 聚集体aggregate 强束缚或融合在一起的颗粒构成的新颗粒,其外表面积可能小于其单个颗粒表面积的总和。 注1:支撑聚集体的力都是强作用力,如共价键或源于烧结或复杂的物理缠结。 注2:聚集体也被称为次级颗粒,而源颗粒则被称为初级颗粒。 注3:利用成像技术,如AFM,一般很难区分团聚和聚集 4基本原理和模式 4.1AFM工作原理 如图1所示,AFM采用带有针尖的微悬臂扫描样品表面,微悬臂的一端连接的是由AFM控制器 1

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