SN 中华人民共和国出入境检验检疫行业标准 SN/T 2003.7—2011 电子电气产品中铅、汞、镐、铬、溴的测定 第7部分：激光诱导定性筛选法 Screening method of lead,mercury,cadmium,chromium and bromine in electrical and electronicequipments- Part 7:Laser induced breakdown spectroscopy 行业标准信息服务平台 2011-09-09发布 2012-04-01实施 中华人民共和国 发布 国家质量监督检验检疫总局 SN/T 2003.7—2011 前言 SN/T2003系列标准共分为7部分： 电子电气产品中铅、汞、镉、铬、溴的测定第1部分：X射线荧光光谱定性筛选法 一 电子电气产品中多溴联苯和多溴二苯醚的测定第2部分：红外光谱定性筛选法 一电子电气产品中铅、汞、镉、铬和漠的测定第3部分：X射线荧光光谱定量筛选法 一电子电气产品中铅、汞、铬、镉和溴的测定第4部分：能量色散X射线荧光光谱定性筛选法 一电子电气产品中铅、汞、铬、镉和溴的测定第5部分：能量色散X射线荧光光谱定量筛选法 一电子电气产品中铅、汞、镉、铬的定性筛选方法第6部分：火花源发射光谱法 电子电气产品中铅、汞、镉、铬、溴的测定第7部分：激光诱导定性筛选法 本部分为SN/T2003系列标准的第7部分。 本部分按照GB/T1.1一2009给出的规则起草。 本部分由国家认证认可监督管理委员会提出并归口。 本部分起草单位：中华人民共和国深圳出入境检验检疫局。 本部分主要起草人：吴景武、刘冬、刘志红、刘丽、李彬、余淑媛、张珠福、冯均利、宋保靓、陈桂强、 徐维嘉。 本部分系首次发布的出人境检验检疫行业标准。 行业标准信息服务平台 SN/T 2003.7—2011 电子电气产品中铅、永、镉、铬、溴的测定 第7部分：激光诱导定性筛选法 警告一一激光诱导击穿光谱（LIBs）使用了高强度的激光，该激光在击穿样品时会产生高亮度的等 离子，因此使用过程中必须遵守仪器生产商所申明的操作要求。 1范围 SN/T2003的本部分规定了电子电气产品中铅、汞、镉、铬、溴的激光诱导击穿光谱定性筛选方法 本部分适用于电子电气产品中铅、汞、镉、铬、漠的定性筛选。 2方法提要 样品经制备后在各元素的定性筛选条件下用激光诱导击穿光谱仪进行测定，对收集到的图谱进行 分析，根据元素特征谱峰确定待测元素是否存在。 3术语 下列术语和定义适用于本文件。 3. 1 激光诱导击穿光谱法Laser-inducedbreakdownspectrometry；LIBs 使用瞬间高能激光轰击物品，使被轰击到的物品产生等离子并发射出连续光谱和该物品的特征光 谱，根据所激发的特征光谱进行物质的成分分析的方法。 4仪器 4.1激光诱导击穿光谱仪，光谱仪的工作条件及参数见附录A 信息服务平台 4.2切割机。 4.3冷冻研磨机。 4.4研磨机。 4.5压片机，压力不小于20t。 4.6熔样机。 5试剂和材料 高纯氮气：纯度大于99.99%。 6 测试步骤 6.1样品制备 6.1.1均质样品的制备 将待测产品拆分至均质的样品，如聚合物类、金属材料类基本上都是均匀同质性样品，尺寸符合 1 SN/T 2003.7—2011 LIBs要求可以直接进行微损检测。若样品尺寸过大，通过机械加工[切割机（4.2）切割，研磨机（4.4）或 冷冻研磨机（4.3）粉碎后压片机（4.5）压片，熔样机（4.6）熔融铸片等制成符合LIBs要求的样品。若样 品尺寸过小，为防止样品被激光激飞，轻质样品可将其研磨至200目以上的粉末样，再用压片机（4.5）压 片；重质样品置于样品杯中进行测试。 6.1.2非均质样品的制备 若样品尺寸过大，通过机械方法将待测样品拆分为均质材料，按均质材料要求进行测试。若样品太 小或无法被机械拆分为均质材料的样品只能作为非均质材料的样品，需通过研磨机（4.4）或冷冻研磨机 （4.3）粉碎后压片机（4.5）压片或熔样机（4.6）熔融铸片等方法制成均质样品。 注：由于各仪器厂商对样品的大小规格要求各有差异，建议参考仪器厂商提供的参考手册。 6.2测试 将6.1中所制备的样品放人仪器样品台上进行测试。 6.3测试次数 每一样品至少测试5～7次。 仪器检出限 不同基体材料仪器的检出限如表1所示。 表1仪器检出限 单位为mg/kg Pb Cd Cr Hg Br 合金 50 50 50 50 聚合物 40V 30 70 50 50 标准信 8丝 结果判定 样品测试中有1次或1次以上出现铅、汞、镉、铬和溴中二个或多个元素的特征谱峰，可判定样品中 含有对应的元素；若样品所有测试次数中均未出现铅、汞、镉、铬和漠的特征谱峰，可判定样品中对应的 元素含量低于表1中仪器的检出限。 2