ICS 31.120 L 47 GB 中华人民共和国国家标准 GB/T 18910.1—2012 代替GB/T18910.1—2002 液晶显示器件 第1部分：总规范 Liquid crystal display devices- Part 1:Generic specification 2012-12-31发布 2013-06-01实施 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 发布 中国国家标准化管理委员会 GB/T 18910.1—2012 目 次 前言 范围 1 规范性引用文件 2 3 术语和定义 总则 4. 1 优先顺序 4. 2 温度、湿度和压力优选值 4.3 标志 4. 4 质量评定类别 4. 5 筛选 4.6 操作 质量评定程序 5. 1 总则 5. 2 鉴定批准的资格 5. 3 商业保密信息 5. 4 检验批的构成 5.5 结构相似器件 5. 6 鉴定批准的授予 5.7 质量一致性检验 5. 8 统计抽样程序 5. 9 耐久性试验 5.10 规定失效率时的耐久性试验 6试验和测试程序 6.1 电光测试的标准大气条件 6.2 物理检查 6.3 电光测试 6.4环境试验 附录A（资料性附录）本部分与GB/T18910.1—2002的主要区别 10 附录B（规范性附录）批允许不合格品率（LTPD)抽样方案 12 附录C（资料性附录） 液晶显示屏外形图的示例 18 附录D（规范性附录）液晶显示模块的取向 20 GB/T 18910.1—2012 前言 GB/T18910《液晶显示器件》分为如下部分： 第1部分：总规范； 第1-1部分：术语和符号； 第2部分：液晶显示模块分规范（GB/T18910.2一2003，IEC61747-2：1998，IDT）； 一 2-1:1998,IDT); 第2-2部分：彩色矩阵液晶显示模块 空白详细规范（GB/T18910.22一2008.IEC61747-2-2： 2004,IDT); 第3部分：液晶显示屏分规范（GB/T18910.3—2008，IEC61747-3：1998,IDT）； 第3-1部分：液晶显示屏空白详细规范； 第4部分：液晶显示模块和屏基本额定值和特性（GB/T18910.4一2007，IEC61747-4： 1998,IDT); 第4-1部分：彩色矩阵液晶显示模块 基本额定值和特性（GB/T18910.41—2008,IEC61747- 4-1:2004,IDT); 第5部分：环境、耐久性和机械试验方法（GB/T18910.5—2008,IEC61747-2：1998,IDT）； 第6部分：液晶显示器件测试方法系列标准。 本部分为GB/T18910的第1部分。 本部分按照GB/T1.1一2009给出的规则起草。 本部分代替GB/T18910.1一2002《液晶和固态显示器件第1部分：总规范》。 本部分与GB/T18910.1—2002相比主要变化及其原因，在附录A中给出以供参考。 本部分由中华人民共和国工业和信息化部提出。 本部分由中国电子技术标准化研究院（CESI)归口。 本部分起草单位：中国电子技术标准化研究院。 本部分主要起草人：赵英。 本部分所代替标准的历次版本发布情况为： GB/T 18910.2—2002。 GB/T 18910.1—2012 液晶显示器件 第1部分：总规范 1范围 GB/T18910的本部分是液晶显示器件的总规范。它规定了IECQ体系质量评定的通用程序，并给 出了电光特性测试方法的通用要求，给出了气候、机械和耐久性试验方法。 本部分适用于液晶显示器件，包括液晶显示屏和液晶显示模块。 2规范性引用文件 下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文 件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。 GB/T4589.1一2006半导体器件第10部分：分立器件和集成电路总规范（IEC60747-10： 1991,IDT) GB/T18910.5一2008液晶和固态显示器件第5部分：环境、耐久性和机械试验方法 (IEC61747-5:1998,IDT) GB/T18910.112012 液晶显示器件第1-1部分：术语和符号 GB/T18910.612012液晶显示器件第6-1部分：液晶显示器件测试方法光电参数 IEC60068（所有部分）环境试验（Environmentaltesting） IEC60410：1973计数检查抽样方案和程序（Samplingplansandproceduresforinspectionby attributes) IEC60747（所有部分）半导体器件分立器件（Semiconductordevices一Discretedevices） IEC60748（所有部分）半导体器件集成电路（Semiconductordevices一Integratedcircuits） IEC60749：1996半导体器件机械和气候试验方法（Semiconductordevices—Mechanicaland climatic test methods) QC001002：1986IECQ电子元器件质量评定体系的程序规则（RulesofProcedureoftheIEC Quality Assessment System for Electronic Components (IECQ)) ISO1101：1983技术制图几何公差形状、位置和偏差公差总则、定义、符号和图样表示法 (Technical drawingsGeometrical tolerancingTolerancing of form, orientation, location and run- out-Generalities,definitions,symbols,indications on drawings) ISO2859（所有部分）计数检查抽样程序（Samplingproceduresforinspectionbyattributes） 3术语和定义 GB/T18910.11一2012界定的术语和定义适用于本文件。 4总则 4.1优先顺序 如有争议，各种文件应按以下权限顺序执行： 1 GB/T18910.1—2012 a) 详细规范； b) 空白详细规范； c) 族规范(如有时）； d) 分规范； e) 总规范； f) 基础规范； g) IECQ程序规则； 需要参考的任何其他国际文件（例如IEC)； 国家文件。 相同的优先顺序适用于等效的国家文件。 4. 2 温度、湿度和压力优选值 特性测试、试验和工作条件的温度、湿度和压力的优选值按GB/T18910.5一2008的规定。 4.3标志 4.3.1器件识别 器件上的标志应能清晰可辨。 4.3.2器件可追溯性 器件应有可追溯性代码，能够追溯到器件确切的生产批和检验批 4.3.3包装 包装上应有下列标志： a） 器件的识别代码； b)1 包装内器件的可追溯性代码； 包装内器件的数量； d) 如需要，其他注意的事项。 以上标志可以按照惯例调整。 注：其他增加的要求可以在有关详细规范中规定 4.4质量评定类别 本规范规定了三个质量评定类别。有识别代码和日期代码的同一检验批内的器件，按规定的质量 类别进行检验。与同一检验分组对应的合格质量水平（AQL)或批允许不合格品率（LTPD)可依不同的 质量类别而异，并应符合详细规范的规定 对各类别的最低要求如下： I类一一该类器件符合Ⅱ类或Ⅲ类鉴定批准要求。各批都符合包括功能试验在内的A组检验要 求。每三个月对一批进行相互连接能力检验，应符合要求。每年进行一次B组和C组检验，均应符合 要求（见5.7.2）。 Ⅱ类一一该类的批符合A组和B组逐批检验要求以及C组周期检验要求。 Ⅲ类一一该类的批需进行100%筛选，并符合A组和B组逐批检验要求以及C组周期检验要求。 分规范和空白详细规范应规定对以上各类的最低要求。详细规范可以包括在总规范、分规范或空 白详细规范中没有的，包括筛选在内的补充要求。 2