ICS 17.040.10 J 04 中华人民共和国国家标准化指导性技术文件 GB/Z24636.2—2009 产品几何技术规范（GPS) 统计公差 第2部分：统计公差值及其图样标注 Geometrical Product Specifications (GPS)-Statistical tolerance- Part 2:Statistical tolerance values and their indication on drawing 2010-09-01实施 2009-11-15发布 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 发布 中国国家标准化管理委员会 GB/Z24636.2—2009 前言 GB/Z24636《产品几何技术规范（GPS） 统计公差》分为如下五部分： 第1部分：术语、定义和基本概念； 第2部分：统计公差值及其图样标注； 一第3部分：零件批（过程）的统计质量指标； 一第4部分：基于给定置信水平的统计公差设计； 一第5部分：装配批（孔、轴配合）的统计质量指标。 本部分为GB/Z24636的第2部分 本部分的附录A、附录B和附录C均为资料性附录。 本部分由全国产品尺寸和几何技术规范标准化技术委员会提出并归口。 本部分起草单位：中机生产力促进中心、山东理工大学、中原工学院、郑州大学。 本部分主要起草人：熊煨、张宇、赵则祥、张琳娜。 GB/Z24636.2—2009 产品几何技术规范（GPS）统计公差 第2部分：统计公差值及其图样标注 1范围 GB/Z24636的本部分规定了统计公差值及在图样中的标注方法。 本部分适用于应用统计过程控制的线性尺寸，特别是具有较高公差等级的配合尺寸；也适用于具有 双侧规范限且应用统计过程控制的计量型质量特性。 2规范性引用文件 下列文件中的条款通过GB/Z24636的本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文 协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本 部分。 GB/Z20308产品几何技术规范（GPS）总体规划（GB/Z20308—2006，ISO/TR14638：1995， MOD) 3统计公差值的形式 过程质量指标的统计公差值由特定的统计公差应用层面决定。上层和中层均为无量纲的标准化数 值，下层为具有量纲的数值。 3.1过程质量指标的统计公差值 过程质量指标的统计公差值（P、PPl）采用百分比表示，由推荐表格选用。一般取小数点后一 位或二位。其中，要求特别高的P可用百万分之一（10-6）为单位表示。 3.2标准化的二维统计公差值 二维统计公差值是用（C*，k*）和（C，8*）数组中的无量纲的数值表示，其大小由上层直接质量指 标或间接质量指标决定。 3.3具有量纲的二维统计公差值 具有实际量纲的基于二维统计参数界面的统计公差值是用（”，△*）数组中的数值表示，其大小由 标准化的二维统计公差值转换 3.4通用要求的质量水平及各项统计公差数值 统计公差通用要求的质量水平可按3和4c质量水平推荐，按照行业和产品特性选择其中一个作 为默认的统计公差通用要求，其隐含的各项统计公差数值如表1所示。 表1统计公差通用要求隐含的各项统计公差数值表 质量水平 Pa* P*(M±T/6) P"(M±T/4) Pa Cpk Cpm 3g 1 0 0.27% 68.3% 86.6% 11.11% 1.00 1. 00 0 4g 1. 33 0.5 0.125 0.0244% 76.3% 92.6% 7.84% 1.16 1. 19 特定要求的SIGMA质量水平及各项统计公差数值见附录A。 4统计公差在图样上的标注 可以按照统计公差通用要求和特定要求在相关图样和技术文件中分别用符号和数值表示。 1 GB/Z24636.2-—2009 4. 1 统计公差通用要求的标注 ST是统计公差符号，也是英文statisticaltolerance的缩写。当设计者对某个具有双侧规范的尺寸 或质量特性要求制造过程应用统计过程控制而无特定质量目标要求时，采用统计公差符号ST并标注 在该尺寸或质量特性公差带代号后面。 示例： $35h5(_8.om）ST 注：统计公差符号ST采用和尺寸及公差带代号同等大小的大写英文字体并加粗，ST前有一个字符的间距。 4.2统计公差特定要求的标注 当设计者对某个具有双侧规范的尺寸或质量特性要求制造过程应用统计过程控制并有特定质量目 标要求时，采用统计公差符号ST、特定质量指标或过程能力指数的符号及统计公差值并标注在该尺寸 或质量特性公差带代号后面。 由于中、下层统计公差和特定制造环境相关，统计公差在图样上的标注方式只涉及上层统计公差 即设计者对该质量特性的过程质量指标或兼顾过程位置与离散特性的指数Ck、Cpm。 4.2.1由单一数值表示的质量指标的统计公差标注 示例1：过程不合格率的统计公差标注 $35h5(0.011)ST.Pd≤0.016% 示例2：过程中间区（T：W。=3：1)率的统计公差标注 $35h5(-0.o1）ST:P.(34.9945±0.00183)≥80% 其中：35为公称尺寸，34.9945为目标值，即M=34.9945，35为最大极限尺寸，（35-0.011）为最小极限尺寸； =0.00183 示例3：过程中间区（T：W。=2：1)率的统计公差标注 $35h5(-8.o1）ST:P.(34.9945±0.00275)≥94% 其中：35为公称尺寸，34.9945为目标值，即M=34.9945，35为最大极限尺寸，（35一0.011）为最小极限尺寸； 1 0.00275。 示例4：过程平均质量损失率的统计公差标注 $35h5(-0.011) ST:Pl≤6.3% 4.2.2由单一数值表示的过程能力指数的统计公差标注 示例1：过程能力指数Ck的统计公差标注 $35h5(-8.o)ST:Cpk≥1.20 示例2：过程能力指数Cpm的统计公差标注 $35h5(_0.o1t）ST:Cm≥1.20 4.3多个质量目标的统计公差标注 多个质量目标的统计公差标注采用统计公差符号及相关质量目标表达式的联立形式。 示例：过程不合格率和中间区（T：W。=3：1)率二项要求的统计公差标注 P≤0.016% $35h5(8.om）ST: P.(34.9945±0.00183)≥80% 5中、下层统计公差在质量控制文件中的表示 5.1中层统计公差的表示 中层统计公差是以在Cp-k二维平面或C-二维平面中的二维统计公差表示。 5.1.1采用数组形式表示的统计公差 统计参数均值和标准差已知时，采用数组形式表示统计公差并按如下形式标注： 示例1： Cp-k二维平面中的保证质量目标P*=0.016%的统计公差标注： 2 GB/Z24636.2—2009 $35h5（_0.011） ST:(C,k*)= (1.30,0.07) 或 rC,≥1.3 $35h5(-8.011)ST: 1 k≤0.07 示例2： Cp-二维平面中的保证质量目标P=0.016%的统计公差标注： $35h5(0.om）ST:(Cp0*）=(1.30,0.273) 或 /Cp≥1.30 $35h5(_8.0m） ST: 118≤0.273 注：两种标注等效。 5.2 2下层统计公差表示 下层统计公差是以在。△二维平面中的二维统计公差表示。 统计参数均值和标准差已知时，采用数组形式表示统计公差并按如下形式标注 示例： $35h5(-0.on)ST:(g△*）=（1.41,0.385) 或 (g≤1.41 $35h5(0.o1) ST: 4≤0.385 采用质量目标函数表示的统计公差见附录B。 3