ICS 27.120 N05 中华人民共和国国家标准 GB/T 37418—2019 硅酸、硅酸钇闪烁单晶 Lutetium oxyorthosilicate,lutetium-yttrium oxyorthosilicate scintillation single orystals 2019-12-01实施 2019-05-10发布 国家市场监督管理总局 发布 中国国家标准化管理委员会 GB/T 37418—2019 目 次 前言 1 范围 2 规范性引用文件 3 术语和定义 4技术要求 4.1 概述 4.2 性能 4.3 外观、尺寸与形位公差 5试验方法 5.1 试验条件 5.2 光输出 5.3 能量分辨率 5.4 衰减时间 5.5 透过率 5.6 辐照硬度 5.7 外观 5.8 尺寸 5.9 翘曲度（Warp) 5.10 总厚度偏差（TTV) 5.11 表面粗糙度(Ra) 5.12 垂直度 5.13 面形偏差 5.14 平行度 检验规则 6.1 检验分类 6.2 鉴定检验 6.3 质量一致性检验 6.4 交收检验 7 供货方式、包装、运输和随行文件 7.1 供货方式 7.2 包装 7.3 运输 7.4 随行文件 附录A（规范性附录） 辐照硬度试验方法 附录B（规范性附录） 垂直度测量方法 附录C（规范性附录） 平行度测量方法 12 1 GB/T 37418—2019 前言 本标准按照GB/T1.1一2009给出的规则起草。 本标准由中国机械工业联合会提出。 本标准由全国仪表功能材料标准化技术委员会（SAC/TC419)归口。 本标准起草单位：中国电子科技集团公司第二十六研究所、重庆材料研究院有限公司。 本标准主要起草人：王佳、岑伟、张俊、付昌禄、丁雨憧、何伦英、张弛、徐扬、胡吉海、李和新 Ⅲ GB/T37418—2019 硅酸、硅酸钇闪烁单晶 1范围 本标准规定了掺硅酸[Ce2xLu2(1-x)SiOs，简称Ce:LSO]、掺铈硅酸[Ce2x（Lui-yY,）2(1-x) SiO，，简称Ce：LYSOI闪烁单晶的术语和定义、技术要求、试验方法、检验规则、供货方式、包装、运输及 随行文件。 本标准适用于Ce：LSO、Ce：LYSO闪烁单晶（以下简称晶体），其他闪烁晶体可以参考使用。 2 规范性引用文件 下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文 件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。 GB/T1804—2000 一般公差未注公差的线性和角度尺寸的公差 GB/T2831—2009光学零件的面形偏差 GB/T4960.6一2008核科学技术术语第6部分：核仪器仪表 GB/T7962.12—2010无色光学玻璃测试方法第12部分：光谱内透射比 GB10252—2009 Y辐照装置的辐射防护与安全规范 GB/T112931989 固体激光材料名词术语 GB/T13181—2002 闪烁体性能测量方法 GB/T13182—2007 碘化钠（铊）闪烁体和碘化钠（）闪烁探测器 GB/T14264—2009 半导体材料术语 GB/T30118—2013 声表面波（SAW）器件用单晶晶片规范与测量方法 GJB179A—1996 计数抽样检验程序及表 JC/T2018—2010 高能粒子探测用掺铊碘化艳晶体 521C 3术语和定义 3 GB/T4960.62008,GB/T112931989、GB/T13182—2007.GB/T142642009、JC/T2018 2010界定的以及下列术语和定义适用于本文件。为便于使用，以下重复列出了GB/T4960.6一2008、 GB/T11293—1989,GB/T13182—2007、GB/T14264—2009、JC/T2018—2010中的某些术语和定义。 3.1 单晶single crystal 不含大角晶界或李晶界的晶体 ［GB/T14264—2009，定义3.222] 3.2 原生晶棒 ingot 未经过任何加工工艺过程的原生态棒状单晶体。 3.3 宏观质量 macroscopic quality 在一定功率的激光器照射下，肉眼可见的晶体内部质量特性。 1 GB/T37418—2019 注：如裂纹、云层、气泡等。 3.4 光输出 light output 闪烁体发射光子的总数与该闪烁体吸收的入射辐射能量之比。 [GB/T4960.6—2008,定义2.3.19] 3.5 能量分辨率 energyresolution 对于某一给定的能量，能分辨的两个粒子能量之间的最小相对差值的量度。 [GB/T13182—2007,定义3.1.16] 3.6 衰减时间 Idecaytime 闪烁体受单次激发后，发射光的强度下降到其最大值的1/e所需的时间。 ［GB/T4960.6—2008，定义2.3.5 3.7 透过率 transmittance 由光学介质出射的光强与同波长的入射光强之比 [GB/T11293—1989,定义75] 3.8 辐照硬度 radiationhardness 晶体抵抗辐照损伤的能力。 注：通常采用晶体辐照前后光输出或透过率的下降幅度作为评价闪烁晶体辐照硬度的指标。 [JC/T2018—2010,定义3.4] 4技术要求 4.1概述 原生晶棒可以加工成片状、块状等形状的晶体，也可以按照使用要求加工成其他形状。 4.2 2性能 原生晶棒的性能应符合表1的规定。 表1原生晶棒性能 序号 性能特性 Ce:LSO Ce:LYSO 备注 1 光输出 ≥28 000 ph/MeV ≥28 000ph/MeV 2 能量分辨率 ≤11%(@662keV) ≤11%(@662 keV) 3 衰减时间 ≤42ns ≤42 ns 4 透过率（规定时） ≥82%(420nm) ≥82% (420 nm) 高能物理领域用 5 辐照硬度（规定时） ≤10%（累积10+Gy） ≤10%（累积10*Gy） 高能物理领域用 2