(19)国家知识产权局 (12)发明 专利 (10)授权公告 号 (45)授权公告日 (21)申请 号 202210401840.3 (22)申请日 2022.04.18 (65)同一申请的已公布的文献号 申请公布号 CN 114487758 A (43)申请公布日 2022.05.13 (73)专利权人 江苏邑文微电子科技有限公司 地址 226000 江苏省南 通市如东县掘港街 道金山路1号 专利权人 无锡邑文电子科技有限公司 (72)发明人 阮正华　孙文彬　缪月陈圆 　 (74)专利代理 机构 北京华沛德权律师事务所 11302 专利代理师 王玉璇 (51)Int.Cl. G01R 31/26(2014.01)G06F 9/451(2018.01) (56)对比文件 CN 111273153 A,2020.0 6.12 CN 111856241 A,2020.10.3 0 CN 105378493 A,2016.0 3.02 CN 1564136 A,2005.01.12 US 2006064673 A1,20 06.03.23 US 8555217 B1,2013.10.08 US 2009320002 A1,20 09.12.24 审查员 樊维维 (54)发明名称 半导体设备的测试方法、 测试系统 (57)摘要 本发明公开了半导体 设备的测试方法、 测试 系统， 涉及半导体设备测试技术领域。 本发明在 测试设备的GU I界面提供的多个测试操作窗口中 依次选择待测试的目标设备的名称、 选择或者自 定义目标设备的至少一个测试指令、 为测试指令 添加测试参数、 将测试指令组合成为对应的测试 指令序列， 然后根据测试指令序列得到封装指 令， 可直接通过在GUI界面进行操作来获取测试 指令序列， 半导体 设备接收测试设备发送的封装 指令后可完成测试， 设备测试无需查找设备文 档， 也无需输入测试指令， 极大的简化了测试过 程、 降低了测试指令 输入错误的可能性。 权利要求书2页 说明书6页 附图2页 CN 114487758 B 2022.08.16 CN 114487758 B 1.一种半导体设备的测试 方法， 其特 征在于， 包括： 初始化GUI界面， 以在所述GUI界面显示多个测试操作窗口； 从第一测试操作窗口中， 选择待测试的目标设备的名称； 从第二测试操作窗口中， 选择或者自定义所述目标设备的至少一个测试指令； 从第三测试操作窗口中， 为所述测试指令添加测试参数， 所述测试参数至少包括测试 指令的发送时间、 测试内容 参数； 从第四测试操作窗口中， 将所述测试指令组合成为对应的测试指令序列； 将所述测试指令序列进行封装并形成封装指令； 将所述封装指令发送至所述目标设备， 驱动所述目标设备完成测试。 2.根据权利要求1的测试 方法， 其特 征在于， 所述测试 方法还包括： 从第五测试操作窗口中， 显示所有的测试数据， 所述测试数据包括依次陈列的目标设 备的名称、 与目标设备对应的测试指 令、 与目标设备对应的测试参数、 与目标设备对应的指 令序列； 将所述第五测试操作窗口中显示的所有测试 数据， 以结构数据库的方式进行存 储。 3.根据权利要求1所述的测试 方法， 其特 征在于， 所述测试 方法还包括： 实时获取 所述目标设备反馈的测试 数据； 对所述测试 数据进行解析获取 所述目标设备的行为 参数和状态参数； 在第五测试操作窗口显示所述目标设备的行为 参数和状态参数。 4.根据权利要求1所述的测试方法， 其特征在于， 将所述封装指令发送至所述目标设 备， 驱动所述目标设备完成测试， 具体包括： 调用与目标设备对应的串口指令， 以Socket ‑TCP方式将所述封装指令发送至所述目标 设备， 驱动所述目标设备完成测试。 5.一种半导体设备的测试 方法， 其特 征在于， 包括： 接收测试设备发送的封装指令； 执行所述封装指令 完成测试； 其中， 所述测试设备初始化的GUI界面显示多个测试操作窗口； 从第一测试操作窗口 中， 可以选择待测试的目标设备的名称； 从第二测试操作窗口中， 可以选择或者自定义所述 目标设备 的至少一个测试指令； 从第三测试操作窗口中， 可以为所述测试指令添加测试参 数， 所述测试参数至少包括测试指令的发送 时间、 测试内容参数； 从第四测试操作窗口中， 可以将所述测试指令组合成为对应的测试指令序列； 之后， 测试设备可以将所述测试指令 序列进行封装并形成封装指令 。 6.根据权利要求5所述的测试方法， 其特征在于， 所述封装指令携带有第一反馈指令， 所述第一反馈指令用于指示半导体设备反馈测试过程中产生的运行及状态信息， 以使 所述 测试设备在第五测试操作窗口中进行显示。 7.根据权利要求6所述的测试方法， 其特征在于， 所述测试设备至少包括计算机设备或 者PLC设备。 8.一种测试系统， 其特征在于， 所述测试系统包括测试设备和半导体设备， 所述测试设 备和半导体设备通过权利要求1 ‑7任一项所述的测试 方法进行测试。 9.一种电子设备， 其特征在于， 包括存储器、 处理器及存储在存储器上并可在处理器上权　利　要　求　书 1/2 页 2 CN 114487758 B 2运行的计算机程序， 所述处理器执行所述程序时实现权利要求1 ‑7中任一项权利要求所述 的测试方法。 10.一种计算机可读存储介质， 其特征在于， 所述计算机可读存储介质被执行时实现权 利要求1‑7中任一项权利要求所述的测试 方法。权　利　要　求　书 2/2 页 3 CN 114487758 B 3