(19)国家知识产权局 (12)发明 专利申请 (10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请 号 202210752272.1 (22)申请日 2022.06.29 (71)申请人 云南电网有限责任公司电力科 学研 究院 地址 650000 云南省昆明市经济技 术开发 区云大西路10 5号 (72)发明人 邓云坤　蒋仕　陈立　石桓通　 李兴文　彭晶　赵现平　王科　 张枭　李桥安　张鹏成　李东　 杨伟荣　 (74)专利代理 机构 深圳中细软知识产权代理有 限公司 4 4528 专利代理师 田丽丽 (51)Int.Cl. G01R 31/327(2006.01)G01D 21/02(2006.01) (54)发明名称 一种测量等离子体 分布参数的方法、 系统及 装置 (57)摘要 本发明涉及一种测量等离子体分布参数的 方法、 系统及装置， 本发 明提供的技术方案， 通过 获取断路器电弧等离子体产生的具有绝对强度 信息的辐射光谱， 之后根据所述辐射光谱中的光 谱铜谱线， 利用自蚀数据处理算法， 得出等离子 体密度分布 参数与温度分布参数。 本发明提供的 技术方案， 能够准确获得铜电极断路器电弧对电 极烧蚀过程中的等离子体密度、 温度参数分布， 进而明确铜电极断路器电弧对电极烧蚀的影响。 权利要求书2页 说明书8页 附图4页 CN 115113032 A 2022.09.27 CN 115113032 A 1.一种测量 等离子体分布参数的方法， 其特 征在于， 包括： 获取断路器电弧等离 子体产生的具有绝对强度信息的辐射 光谱； 根据所述辐射光谱中的光谱铜谱线， 利用自蚀数据处理算法， 得出等离子体密度分布 参数与温度分布参数。 2.根据权利要求1所述的方法， 其特征在于， 所述利用自蚀数据处理算法， 得出等离子 体温度分布参数， 包括： 获取预先设定的自蚀线谱测量输入值与初始温度分布； 基于自蚀线谱测量输入值与初始温度分布， 确定最大温度分布； 判断所述 最大温度分布与初始温度分布的差值是否小于预设值； 若是， 则将所述 最大温度分布作为初始温度分布， 进行迭代计算； 若否， 则将所述 最大温度分布作为 等离子体温度分布参数。 3.根据权利要求2所述的方法， 其特 征在于， 所述确定最大温度分布， 包括： 根据所述初始温度分布， 计算得 出不均匀程度参数； 根据所述 不均匀程度参数， 计算得 出谱线发射 率； 根据谱线发射 率与自蚀线谱测量输入值， 计算得 出最大温度分布。 4.根据权利要求3所述的方法， 其特 征在于， 所述计算得 出不均匀程度参数， 包括： 根据所述初始温度分布， 计算得到参数 ηj； 根据参数 ηj， 计算得出表征空间径向上积分量的参数Ωj； 根据参数 Ωj， 计算得出等离子体由于源函数递减导致总谱线辐射递减作用的不均匀程 度参数M∞； 根据参数 ηj与参数Ωj， 计算得出等离子体由于自 吸收导致的不均匀程度参数p∞。 5.根据权利要求 4所述的方法， 其特 征在于， 所述计算得 出谱线发射 率， 包括： 根据所述 不均匀程度参数p∞， 计算得出参数Y； 根据参数Y与不均匀程度参数M∞， 计算得出谱线发射 率。 6.根据权利要求2所述的方法， 其特征在于， 所述利用自蚀数据处理算法， 得出等离子 体密度分布参数， 包括： 根据所述辐射 光谱中的光谱铜谱线， 提取谱线史塔克展宽； 根据谱线史塔克展宽与电子密度、 温度之间关系， 计算得 出等离子体的密度分布参数。 7.根据权利要求1所述的方法， 其特征在于， 在获取断路器电弧等离子体产生的具有绝 对强度信息的辐射 光谱之前， 还 包括： 采用钨丝标准能量灯进行绝对光谱响应的校核标定 。 8.一种测量 等离子体分布参数的系统， 其特 征在于， 包括： 辐射获取模块， 用于获取断路器电弧等离 子体产生的具有绝对强度信息的辐射 光谱； 计算模块， 用于根据 所述辐射光谱中的光谱铜谱线， 利用自蚀数据处理算法， 得出等离 子体密度分布参数与温度分布参数。 9.根据权利要求8所述的系统， 其特 征在于， 还 包括： 校核标定模块， 用于对所述辐射获取模块的绝对光谱响应进行 校核标定 。 10.一种测量 等离子体分布参数的装置， 其特 征在于， 包括： 主控器， 及与所述主控器相连的存 储器；权　利　要　求　书 1/2 页 2 CN 115113032 A 2所述存储器， 其中存 储有程序指令； 所述主控器用于执行存储器 中存储的程序指令， 执行如权利要求1～7任一项所述的方 法。权　利　要　求　书 2/2 页 3 CN 115113032 A 3