UDC 621.383 L 45 GP 中华人民共和国国家标准 GB/T15529—1995 半导体发光数码管空白详细规范 Blank detail specification for LED numeric displays 1995-11-01实施 1995-04-06发布 国家技术监督局 发布 中华人民共和国国家标准 GB/T-15529--1995 半导体发光数码管空白详细规范 Blank detail specification for LED numeric displays 本空白详细规范规定了制定半导体发光数码管详细规范的基本原则。制定该规范范围内的所有详 细规范应尽可能与本空白详细规范相一一致。 本标准是与GB4589.1《半导体器件分立器件和集成电路总规范》和GB12565《半导体器件光 电子器件分规范》有关的一系列空白详细规范中的一个。 要求资料: 下列所要求的各项内容,应列入首页规定的相应空栏中。 详细规范的识别: (1)授权发布详细规范的国家机构名称。 (2)IECQ详细规范号。 (3)总规范和分规范号。 (4)详细规范号、发布日期和国家体系要求的任何更多的资料。 器件的识别: (5)器件类型的简明说明。 (6)典型结构和应用资料。 如果设计种器件满足几种应用,则应在详细规范中明确指出。其应用特性、极限值和检验要求均 应予以满足。 (7)外形图和(或)引用有关的外形标准。 (8)质量评定类别。 (9)能在器件型号之间比较的最重要特性的参考数据。 [整个空白详细规范中,在方括号内给出的内容仅供指导制定详细规范时用,而不包括在详细规范 中。 [在极限值和特性的“数值”栏中,“×”表示在详细规范中应给出的具体值。] 国家技术监督局1995-04-06批准 1995-11-01实施 1 GB/T 15529—1995 【授权发布详细规范的国家机构名称] (1) [IECQ详细规范号] (2) 评定器件质量的根据: (3) [详细规范号和发布日期 (4) GB4589.1《半导体器件 分立器件和集成电 如果详细规范号与IECQ号重复,则本栏可以不 路总规范》 用 GB12565《半导体器件 光电子器件分规范》 [器件型号] (5) 订货资料:见本规范第7章 机械说明 (7) 2 简略说明 (6) 外形标准: 材料: SJ2684《半导体发光(可见光)器件外形尺 封装:空封或非空封 寸》 用途: 外形图和电原理图及引出端识别: [可在第10章给出更多的细节] 标志: 根据GB4589.1的第2.5条或本规范第6章 的规定,详细规范应规定在器件上标出的最 少项目 质量评定类别 (8) 3 [根据GB4589.1第2.6条] 参考数据: (9) 按本规范鉴定合格的器件的有关制造单位的资料,可在现行合格产品一栏表中查到 GB/T 15529-1995 4极限值(绝对最大额定值) 除非另有规定,下列极限值在整个工作温度范围内适用。 [只重复使用带标题的条文号,任何附加值在适当的地方给出,但没有条文号。曲线最好在本规范第 10章给出。1 数 值 条文号 名 称 符号 单位 最小值 最大值 工作环境温度 Tamb 4. 1 X ℃ Ta 4. 2 贮存温度 X X 4. 3 反向电压(每段) VR V 4. 4 正向电流(每段) Ir mA 4. 5 脉冲条件下正向峰值电流(每段) IrM x mA 4. 6 耗散功率(显示器全亮) P.. X mw 注:1)应规定脉冲宽度、占空因数。 5光电特性 检验要求见本规范第8章。 [只重复使用带标题的条文号,任何附加特性应在适当地方给出,但没有条文号。] [当在同一详细规范中规定几种规格的器件时,有关的数值应以连续方式给出,以免相同值的重 复。 [曲线最好在第10章给出。] 数 值 特性和条件 条文号 符号 单位 检验分组 除非另有规定,Tamb25℃ 最小值 最大值 5. 1 正向电压(每段) Vr X V A2b 在规定的 IF 下 5. 2 反向电流(每段) IR X μA A2b 在 4. 3条规定的 Vk下 5. 3 发光强度(每段) I. X mcd A2h 在规定的 I下 5.4 发光强度均匀度1) W X A2b 在规定的I下 5. 5 峰值发射波长 X X nm C2a 在规定的 I下 5. 6 光谱幅射带宽(适用时) X nm C2a 在规定的IF下 5.7 开关时间(适用时) ton X C2a us X C2a toff μs 在规定的直流偏置电流、脉冲 宽度和占空因数下 注:1)小数点除外。 3 GB/T 15529-1995 6标志 [除在本规范第1章第(7)栏和(或)GB4589.1第2.5条所给出的标志外,任何其他资料应在本章 具体给出。] 7 订货资料 [除非另有规定,订购一种具体器件至少需要以下资料: a型号; b详细规范号和版本号; c按GB4589.1第2.6条规定的质量评定类别和(或)按GB12565第3.6条规定的筛选等级; d任何其他细节。 8试验条件和检验要求 【在以下各表中给出的试验条件和检验要求,其所用数值和确切的条件,应按给定型号的要求和有 关规范中规定的有关试验予以规定。 [制定详细规范时,对于二种以上的替换试验或试验方法要加以选择。] [当在同一详细规范中包括几种规格的器件时,有关的条件和(或)数值应以连续方式给出,以尽可 能避免相同的条件和(或)数值的重复。 除非另有规定,本章中引用的条文号对应于GB4589.1的条文号。本章中所用测试方法引用的条 文号与GB12565一致。 [根据适用的质量评定类别,抽样要求可从GB12565第3.7条查得。对于A组检验,制定详细规范 时应选定AQL或LTPD方案。J A 组 逐批 LSL规范下限值 根据本规范第5章 USL规范上限值 全部试验都是非破坏性的(见第3.6.6条) 检验要求 条件 符号 检验或试验 引用标准 除非另有规定 极 限 单位 Tanb = 25 C 最小值 最大值 A1 分组 外部目检 4.2.1.1 A2a 分组 不工作器件 发光强度(每段) 1. 本规范附录 A [在规定的 Ir 下] 0. 1LSL mcd 正向电压(每段) VF L-006 【在规定的I下] 2USL V 反向电流(每段) IR L-007 [在规定的 V下] 50USL μA SAC 4

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